Forschungsbereich Integrated Circuits

Organization Name (de) Name der Organisation (de)
E354-02 - Forschungsbereich Integrated Circuits
 
Code Kennzahl
E354-02
 
Type of Organization Organisationstyp
Research Division
Parent OrgUnit Übergeordnete Organisation
 
Active Aktiv
 


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PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Hofbauer, Michael Position Resolved Radiation Testing of Integrated Optical Detectors and Digital CircuitsPresentation Vortrag23-May-2023
2Hofbauer, Michael Precise Distance Measurement with Thick SPADsPräsentation Presentation2022
3Zimmermann, Horst Thick SPADs and Readout Circuits for High Excess BiasPräsentation Presentation2021
4Hofbauer, Michael ; Steindl, Bernhard ; Schneider-Hornstein, Kerstin ; Zimmermann, Horst Thick CMOS Single-Photon Avalanche Diode Optimized for Near Infrared with Integrated Active Quenching CircuitPräsentation Presentation2019
5Mitrovic, Mladen ; Hofbauer, Michael ; Schneider-Hornstein, Kerstin ; Goll, Bernhard ; Voss, K.O. ; Zimmermann, Horst Evidence of Pulse Quenching in AND gates in 65 nm Bulk CMOS by Experimental Probing of Full Single-Event Transient WaveformsPräsentation Presentation2017
6Zimmermann, Horst From Integrated Optoelectronics to Electronic-Photonic IntegrationPräsentation Presentation2016
7Miskovic, Goran ; Aleksic, Obrad S. ; Nikolic, Miodrag ; Nicolics, Johann ; Radosavljevic, Goran ; Vasiljevic, Zorka Z. ; Lukovic, Miloljub D. Nanostructured SnO2 thick films for gas sensor application: analysis of structural and electronic propertiesPräsentation Presentation2015
8Tadic, Niksa ; Erceg, Milena ; Goll, Bernhard ; Zimmermann, Horst Influence of process parameters and temperature variations on the voltage amplifiers based on two MOSFETs negative-resistance devicesPräsentation Presentation2015
9Hofbauer, Michael ; Schweiger, Kurt ; Gaberl, Wolfgang ; Zimmermann, Horst ; Giesen, Ulrich ; Langner, Frank ; Schmid, Ulrich ; Steininger, Andreas Single Event Transient Pulse Shape Measurements by On-chip Sense Amplifiers in a Single Inverter for Intermediate Input States under Alpha Particle IrradiationPräsentation Presentation2013
10Hofbauer, Michael ; Schweiger, Kurt ; Dietrich, Horst ; Zimmermann, Horst ; Schmid, Ulrich ; Giesen, U. Messung der Auswirkungen von ionisierender Strahlung auf 90 nm CMOS SchaltungenBericht Report2012
11Hofbauer, Michael ; Schweiger, Kurt ; Dietrich, Horst ; Zimmermann, Horst Messung der Auswirkungen von ionisierender Strahlung auf CMOS SchaltungenPräsentation Presentation2012
12Hofbauer, Michael ; Schweiger, Kurt ; Dietrich, Horst ; Zimmermann, Horst ; Voss, K.O. ; Merk, B ; Schmid, Ulrich ; Steininger, Andreas Pulse Shape Measurements by On-chip Sense Amplifiers of Single Event Transients Propagating through a 90 nm Bulk CMOS Inverter ChainPräsentation Presentation2012
13Marchlewski, Artur ; Goll, Bernhard ; Zimmermann, Horst Zwischenbericht Projekt DEOS 2008-02-29Bericht Report2008
14Schweiger, Kurt ; Uhrmann, Heimo ; Kolm, Robert ; Yan, Weixun ; Zimmermann, Horst Zwischenbericht Projekt Galileo Client 2008-02-29Bericht Report2008
15Zimmermann, Horst High-End Analoge CMOS-Schaltungen und Silicium PDICsPräsentation Presentation2008
16Schlögl, Franz ; Yan, Weixun ; Schneider-Hornstein, Kerstin ; Zimmermann, Horst Operationsverstärker in Deep sub-μm und Nanometer CMOS TechnologienPräsentation Presentation2008
17Micusik, Daniel ; Zimmermann, Horst Zwischenbericht Projekt HYBORBericht Report2007
18Marchlewski, Artur ; Zimmermann, Horst Zwischenbericht Projekt DEOSBericht Report2007
19Zimmermann, Horst High-End Silicium PDICsPräsentation Presentation2007
20Uhrmann, Heimo ; Gaberl, Wolfgang ; Zimmermann, Horst A Low-Noise Current Preamplifier in 120nm CMOS TechnologyPräsentation Presentation2007