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Reynders, K
 

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1Moens, Peter ; Bychikhin, Sergey ; Reynders, K ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Tack, M Dynamics of integrated vertical DMOS transistors under 100ns TLP stressArtikel Article2005
2Stadler, Wolfgang ; Esmark, Kai ; Reynders, K ; Zubeidat, M ; Graf, M. ; Wilkening, W ; Willemen, Joost ; Qu, N ; Mettler, S ; Etherton, M ; Nuernbergk, D ; Wolf, H ; Gieser, H. ; Soppa, W. ; Heyn, V.De ; Natarajan, M ; Groeseneken, G. ; Morena, E ; Stella, R ; Andreini, A. ; Litzenberger, Martin ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Foss, C ; Konrad, A ; Frank, M Test Circuits for Fast and Reliable Assessment of CDM Robustness of I/O stagesArtikel Article 2005