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Luitz, Joachim
 

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PreviewAuthors / EditorsTitleTypeIssue Date
1Pongratz, Peter ; Kenda, Andreas ; Cerva, H. ; Hierlemann, M. Simulation of LACBED patterns of STI Structures for the Measurement of Strain in ULSI DevicesKonferenzbeitrag Inproceedings2006
2Galek, Thomasz ; Stöger-Pollach, Michael ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter Ab initio study of metal induced gap states at Si / Al interfaceKonferenzbeitrag Inproceedings2006
3Galek, Thomasz ; Stöger-Pollach, Michael ; Laister, A. ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter Kramers-Kronig Analysis in the Valence Electron Energy Loss SpectrometryKonferenzbeitrag Inproceedings2006
4Hébert, Cécile ; Satz, Armin ; Kothleitner, G. ; Eisenmenger-Sittner, Christoph ; Schattschneider, Peter Lifetime of hot electronics in gold retrieved from loss EELSKonferenzbeitrag Inproceedings2006
5Stöger-Pollach, Michael ; Rubino, Stefano ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter Improving the intensity in CHIRALTEM experimentsKonferenzbeitrag Inproceedings2006
6Laister, A. ; Galek, Thomasz ; Stöger-Pollach, Michael Removing retardation effects in valence EELS spectraKonferenzbeitrag Inproceedings2006
7Schattschneider, Peter Coherence in inelastic electron scatteringKonferenzbeitrag Inproceedings2006
8Luitz, Joachim ; Hébert, Cécile ; Weinmeier, Kerstin ; Blaha, Peter ; Ambrosch-Draxl, Claudia ; Schattschneider, Peter DFTEM 2006, bringing together tow communities - International Conference on Density Functional Theory and Transmission Electron MicroscopyKonferenzband Proceedings2006
9Luitz, Joachim ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter AK EELS-EFTEM 5. Workshop on Electron Loss Spectrometry and Engergy FilteringKonferenzband Proceedings2006