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Full name Familienname, Vorname
Eyidi, Dominique Pascal
 
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1Petter, K. ; Eyidi, Dominique ; Stöger-Pollach, Michael ; Sieber, I. ; Schubert-Bischoff, P. ; Rau, B. ; Tham, A.T. ; Schattschneider, Peter ; Gall, S. ; Lips, K. ; Fuhs, W. Line defects in epitaxial silicon films grown at 560°CArtikel Article2006
2Rau, B. ; Petter, K. ; Sieber, I. ; Stöger-Pollach, Michael ; Eyidi, Dominique ; Schattschneider, Peter ; Gall, S. ; Lips, K. ; Fuhs, W. Extended defects in Si films epitaxially grown by low-temperature ECRCVDArtikel Article2006
3Eyidi, Dominique ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter Short note on parallel illumination in the TEMArtikel Article2006
4Eyidi, Dominique ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter P-FKP40: Is Parallel Illumination Possible in the TEM ?Präsentation Presentation2005
5Sket, F. ; Eyidi, Dominique ; Garcia, J. L. ; Pyzalla, Anke The Microstructure Of Co And Ni Binder Phases In Graded Hard Metals And Its Influence On Corrosion ResistancePräsentation Presentation2005
6Eyidi, Dominique ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter Is Parallel illumination Possible in the TEM ?Präsentation Presentation2005
7Petter, K. ; Eyidi, Dominique ; Stöger-Pollach, Michael ; Sieber, I. ; Schubert-Bischoff, P. ; Rau, B. ; Tham, A.T. ; Schattschneider, Peter ; Gall, S. ; Lips, K. ; Fuhs, W. Line defects in epitaxial silicon films grown at 560°CPräsentation Presentation2005
8Schattschneider, Peter ; Bernardi, Johannes ; Eyidi, Dominique ; Hébert, Cécile ; Hofer, F. ; Jouffrey, B. ; Nelhiebel, M. ; Rubino, Stefano ; Stöger-Pollach, Michael ; Willinger, Marc-Georg Fundamentals of EELSPräsentation Presentation2005
9Stöger-Pollach, Michael ; Walter, T. ; Eyidi, Dominique ; Schneider, J. ; Gall, S. The role of an alumina membrane and its phase transformations during the layer exchange processPräsentation Presentation2005
10Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter ; Eyidi, Dominique ; Bernardi, Johannes ; Montgermont, Aude ; Walter, T. ; Galek, Thomasz ; Bryla, K. METEOR WP5 - Materials characterization: A complete summaryPräsentation Presentation2005
11Rau, B. ; Petter, K. ; Sieber, I. ; Stöger-Pollach, Michael ; Eyidi, Dominique ; Schattschneider, Peter ; Gall, S. ; Lips, K. ; Fuhs, W. Extended defects in Si films epitaxially grown by low-temperature ECRCVDPräsentation Presentation2005
12Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter ; Eyidi, Dominique ; Walter, T. ; Galek, Thomasz ; Winkelmann, H. ; Eisenmenger-Sittner, Christoph METEOR WP5 - Materials characterization: latest resultsPräsentation Presentation2005
13Galek, Thomasz ; Hébert, Cécile ; Eyidi, Dominique ; Schattschneider, Peter ; Figiel, H. Electron Energy Loss Spectroscopy of Rare Earth-Transition Metal Compounds and Their Hydrides ReMnâ‚‚(Hâ‚‚) (Re=Gd,Er) Aided With Ab Initio Calculations Using WIEN2kPräsentation Presentation2005
14Galek, Thomasz ; Hébert, Cécile ; Eyidi, Dominique ; Schattschneider, Peter ; Figiel, H. P-FKP26: Electron Energy Loss Spectroscopy of Rare Earth-Transition Metal Compounds and Their Hydrides ReMnâ‚‚(Hâ‚‚) (Re=Gd,Er) Aided With Ab Initio Calculations Using WIEN2kPräsentation Presentation2005
15Eyidi, Dominique ; Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter Influence of hydrogen atmosphere on epitaxyPräsentation Presentation2005
16Stöger-Pollach, Michael ; Eyidi, Dominique TEM images of defects in EPI-layersPräsentation Presentation2005
17Stöger-Pollach, Michael ; Eyidi, Dominique ; Schattschneider, Peter Meteor Contractor's ReportBericht Report2005
18Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter ; Eyidi, Dominique Meteor workpackage report WP5Bericht Report2005
19Galek, Thomasz ; Hébert, Cécile ; Eyidi, Dominique ; Moskalewicz, T. ; Schattschneider, Peter ; Figiel, H. Electron energy-loss spectroscopy investigations of the electron density in ErMnâ‚‚ and ErMnâ‚‚Dâ‚‚ compoundsArtikel Article2005