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Full name Familienname, Vorname
Laister, A.
 

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PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Stöger-Pollach, M. ; Laister, A. ; Schattschneider, P. Treating retardation effects in valence EELS spectra for Kramers-Kronig analysisArtikel Article2008
2Stöger-Pollach, Michael ; Laister, A. ; Schattschneider, Peter The Determination of Optical Properties of Semiconductors Using EELSPräsentation Presentation2007
3Stöger-Pollach, Michael ; Laister, A. ; Galek, Thomasz ; Schattschneider, Peter Relativistic effects in valence EELSKonferenzbeitrag Inproceedings2006
4Galek, Thomasz ; Stöger-Pollach, Michael ; Laister, A. ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter Kramers-Kronig Analysis in the Valence Electron Energy Loss SpectrometryKonferenzbeitrag Inproceedings2006
5Laister, A. ; Galek, Thomasz ; Stöger-Pollach, Michael Removing retardation effects in valence EELS spectraKonferenzbeitrag Inproceedings2006
6Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter ; Laister, A. Retardation effects in valence EELS spectraKonferenzbeitrag Inproceedings2006
7Stöger-Pollach, Michael ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter ; Laister, A. Retardation Effects in Valence - EELS SpectraKonferenzbeitrag Inproceedings2006