Name Card

Full name Familienname, Vorname
Altmann, R.
 

Own Publications Eigene Publikationen

Results 1-8 of 8 (Search time: 0.001 seconds).

PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Beckhoff, B. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polgnano, M.L. ; Codegoni, C. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Lazzeri, P. ; Gennaro, S. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Investigation of Spin-coated inorganic contamination on Si surfacs by various analytical techniquesPräsentation Presentation2010
2Nutsch, A. ; Beckhoff, B. ; Altmann, R. ; Polignano, M.L. ; Cazzini, E. ; Codegoni, D. ; Borionetti, G. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Mantler, C. ; Streli, Christina Comparability of TXRF Systems at different laboratoriesPräsentation Presentation2009
3Nutsch, A. ; Beckhoff, B. ; Altmann, R. ; Polignano, M.L. ; Borionetti, G. ; Kregsamer, Peter ; Streli, Christina ; Pepponi, Giancarlo Comparison of TXRF Systems from Si wafer surface analysis at different laboratories of ANNPräsentation Presentation2009
4Nutsch, A. ; Beckhoff, B. ; Altmann, R. ; Polignano, M.L. ; Borionetti, G. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Mantler, C. ; Streli, Christina Comparability of TXRF Systems at different laboratoriesKonferenzbeitrag Inproceedings2009
5Nutsch, A. ; Beckhoff, B. ; Altmann, R. ; van den Berg, J.A. ; Giubertoni, D. ; Hoenicke, P. ; Bersani, M. ; Leibold, A. ; Meirer, F. ; Müller, M. ; Pepponi, Giancarlo ; Otto, M. ; Petrik, P. ; Reading, M.A. ; Pfitzner, L. ; Ryssel, H. Complementary metrology within a European joint laboratoryKonferenzbeitrag Inproceedings 2009
6Beckhoff, B. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polignano, M.L. ; Codegoni, D. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Gennaro, S. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Assessing Various Analytical Techniques With Different Lateral Resolution By Investigating Spin-coated Inorganic Contamination On Si SurfacesKonferenzbeitrag Inproceedings 2009
7Beckhoff, B. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polignano, M.L. ; Codegoni, D. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Lazzeri, P. ; Gennaro, S. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Highly sensitive detection of inorganic contaminationKonferenzbeitrag Inproceedings 2009
8Beckhoff, B. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polignano, M.L. ; Codegoni, D. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Lazzeri, P. ; Gennaro, S. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Assessing various analytical techniques with different lateral resolution by investigating spin-coated inorganic contamination on Si surfacesPräsentation Presentation2009