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Jensen, Nils
 

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1Mamanee, Wasinee ; Bychikhin, Sergey ; Johnsson, David ; Jensen, Nils ; Stecher, Matthias ; Gornik, Erich ; Pogany, Dionyz Effect of Chip Heating on Thermal Breakdown Occurrence in SPT ESD Protection Devices Subjected to 0.5-1µs Long Current PulsesPräsentation Presentation2009
2Reggiani, Susanna ; Gnani, Elena ; Rudan, Massimo ; Baccarani, Giorgio ; Bychikhin, Sergey ; Kuzmik, Jan ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Denison, Marie ; Jensen, Nils ; Groos, Gerhard ; Stecher, Matthias Experimental investigation on carrier dynamics at the thermal breakdownKonferenzbeitrag Inproceedings 2006
3Reggiani, Susanna ; Gnani, Elena ; Rudan, Massimo ; Baccarani, Giorgio ; Bychikhin, Sergey ; Kuzmik, Jan ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Denison, Marie ; Jensen, Nils ; Groos, Gerhard ; Stecher, Matthias Predictive device simulation for ESD protection structures validated with transient interferometric thermal-mapping experimentsKonferenzbeitrag Inproceedings2005
4Pogany, Dionyz ; Bychikhin, Sergey ; Kuzmik, Jan ; Gornik, Erich ; Denison, Marie ; Jensen, Nils ; Stecher, Matthias ; Rodin, Pavel ; Groos, Gerhard Observation of travelling current filaments in semiconductor devices using transient interferometric mappingKonferenzbeitrag Inproceedings2005
5Reggiani, Susanna ; Gnani, Elena ; Rudan, Massimo ; Baccarani, Giorgio ; Bychikhin, Sergey ; Kuzmik, Jan ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Denison, Marie ; Jensen, Nils ; Groos, Gerhard ; Stecher, Matthias A New Numerical and Experimental Analysis Tool for ESD Devices by Means of the Transient Interferometric TechniqueArtikel Article2005
6Dubec, Victor ; Bychikhin, Sergey ; Blaho, M. ; Heer, Michael ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Denison, Marie ; Jensen, Nils ; Stecher, Matthias ; Groos, Gerhard Multiple-time-instant 2D thermal mapping during a single ESD eventPräsentation Presentation2004
7Pogany, Dionyz ; Bychikhin, Sergey ; Kuzmik, Jan ; Dubec, Victor ; Jensen, Nils ; Denison, Marie ; Groos, Gerhard ; Stecher, Matthias ; Gornik, Erich Thermal Distribution During Destructive Pulses in ESD Protection Devices Using a Single-Shot Two-Dimensional Interferometric MethodArtikel Article2003
8Denison, Marie ; Blaho, M. ; Silber, D ; Joos, J ; Jensen, Nils ; Stecher, Matthias ; Dubec, Victor ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich Hot spot dynamics in quasi vertical DMOS under ESD stressKonferenzbeitrag Inproceedings2003