Name Card

Full name Familienname, Vorname
Hoffmann, T.Y.
 

Own Publications Eigene Publikationen

Results 1-3 of 3 (Search time: 0.001 seconds).

PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Toledano-Luque, M. ; Kaczer, Ben ; Franco, J. ; Roussel, Ph. J. ; Grasser, Tibor ; Hoffmann, T.Y. ; Groeseneken, G. From Mean Values to Distributions of BTI Lifetime of Deeply Scaled FETs Through Atomistic Understanding of the DegradationKonferenzbeitrag Inproceedings2011
2Franco, J. ; Kaczer, B. ; Eneman, G. ; Mitard, J. ; Stesmans, A. ; Afanas'ev, V. ; Kauerauf, T. ; Roussel, Ph.J. ; Toledano-Luque, M. ; Cho, M. ; Degraeve, R. ; Grasser, T. ; Ragnarsson, L.-A. ; Witters, L. ; Tseng, J. ; Takeoka, S. ; Wang, W.-E. ; Hoffmann, T.Y. ; Groeseneken, G. 6Å EOT Si<inf>0.45</inf>Ge<inf>0.55</inf> pMOSFET with optimized reliability (V<inf>DD</inf>=1V): Meeting the NBTI lifetime target at ultra-thin EOTKonferenzbeitrag Inproceedings2010
3Franco, J. ; Kaczer, Ben ; Mitard, J. ; Eneman, G. ; Roussel, Ph. J. ; Crupi, F. ; Grasser, Tibor ; Witters, L. ; Hoffmann, T.Y. ; Groeseneken, G. Implications of Channel Hot Carrier Degradation in Si0.45Ge0.55 pMOSFETsPräsentation Presentation2010