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Lieb, Andreas
 

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1Lieb, Andreas ; Howald, Lukas ; Fricker, Simon ; Thier, Markus ; Schitter, Georg Atomic Force Microscope for In-Line MetrologyPräsentation Presentation2016
2Fraxedas, Jordi ; Staufer, Urs ; Munnig Schmidt, Robert ; Spronck, Jo W. ; Trinidad, Enrique Rull ; Deng, Ruijun ; Schitter, Georg ; Thier, Markus ; Messineo, Saverio ; Ito, Shingo ; Hainisch, Reinhard ; Saathof, Rudolf ; Perez-Murano, Francesc ; Verdaguer, Albert ; Blümel, Alexander ; List-Kratochvil, Emil J. W. ; Koops, Richard ; van Veghel, Marijn ; Sum, Robert ; Lieb, Andreas ; Schott, Walter ; Dontsov, Denys ; Sulzbach, Thomas ; Engl, Wolfgang ; Penzkofer, Christian ; Colominas, Carles ; Fluch, Karl ; Garcia-Granada, Andrés-Amador ; Puigoriol-Forcada, Josep Maria Automated inline Metrology for Nanoscale Production - aim4npPräsentation Presentation2014
3Koops, Richard ; Staufer, Urs ; Munnig Schmidt, Robert ; Spronck, Jo W. ; Trinidad, Enrique Rull ; Deng, Ruijun ; Schitter, Georg ; Thier, Markus ; Messineo, Saverio ; Ito, Shingo ; Hainisch, Reinhard ; Saathof, Rudolf ; Fraxedas, Jordi ; Perez-Murano, Francesc ; Verdaguer, Albert ; Blümel, Alexander ; List-Kratochvil, Emil J. W. ; van Veghel, Marijn ; Sum, Robert ; Lieb, Andreas ; Schott, Walter ; Dontsov, Denys ; Sulzbach, Thomas ; Engl, Wolfgang ; Penzkofer, Christian ; Colominas, Carles ; Fluch, Karl ; Garcia-Granada, Andrés-Amador ; Puigoriol-Forcada, Josep Maria Automated in-line Metrology for Nanoscale Production - aim4npPräsentation Presentation2014