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Fluch, Karl

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		Preview	Author(s)	Title	Type	Issue Date
	1		Fraxedas, Jordi ; Staufer, Urs ; Munnig Schmidt, Robert ; Spronck, Jo W. ; Trinidad, Enrique Rull ; Deng, Ruijun ; Schitter, Georg ; Thier, Markus ; Messineo, Saverio ; Ito, Shingo ; Hainisch, Reinhard ; Saathof, Rudolf ; Perez-Murano, Francesc ; Verdaguer, Albert ; Blümel, Alexander ; List-Kratochvil, Emil J. W. ; Koops, Richard ; van Veghel, Marijn ; Sum, Robert ; Lieb, Andreas ; Schott, Walter ; Dontsov, Denys ; Sulzbach, Thomas ; Engl, Wolfgang ; Penzkofer, Christian ; Colominas, Carles ; Fluch, Karl ; Garcia-Granada, Andrés-Amador ; Puigoriol-Forcada, Josep Maria	Automated inline Metrology for Nanoscale Production - aim4np	Präsentation Presentation	2014
	2		Koops, Richard ; Staufer, Urs ; Munnig Schmidt, Robert ; Spronck, Jo W. ; Trinidad, Enrique Rull ; Deng, Ruijun ; Schitter, Georg ; Thier, Markus ; Messineo, Saverio ; Ito, Shingo ; Hainisch, Reinhard ; Saathof, Rudolf ; Fraxedas, Jordi ; Perez-Murano, Francesc ; Verdaguer, Albert ; Blümel, Alexander ; List-Kratochvil, Emil J. W. ; van Veghel, Marijn ; Sum, Robert ; Lieb, Andreas ; Schott, Walter ; Dontsov, Denys ; Sulzbach, Thomas ; Engl, Wolfgang ; Penzkofer, Christian ; Colominas, Carles ; Fluch, Karl ; Garcia-Granada, Andrés-Amador ; Puigoriol-Forcada, Josep Maria	Automated in-line Metrology for Nanoscale Production - aim4np	Präsentation Presentation	2014