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Zandbergen, H.W.
 

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1Stöger-Pollach, Michael ; Franco, H. ; Schattschneider, Peter ; Lazar, S. ; Schaffer, B. ; Grogger, W. ; Zandbergen, H.W. Cerenkov losses: A limit for bandgap determination and Kramers-Kronig analysisArtikel Article 2006
2Stöger-Pollach, Michael ; Lazar, S. ; Schaffer, B. ; Schattschneider, Peter ; Zandbergen, H.W. Cerenkov losses in valence EELSPräsentation Presentation2005
3Mitterbauer, C. ; Hébert, Cécile ; Kothleitner, G. ; Hofer, F. ; Schattschneider, Peter ; Zandbergen, H.W. Electron energy loss-near edge structure as a fingerprint for identifying chromium nitridesArtikel Article2004
4Stöger-Pollach, Michael ; Schneider, J. ; Zandbergen, H.W. ; Schattschneider, Peter ; Gall, S. Investigations of Bonding at an Aluminium (III) Oxide Membrane in Si using ELNES SeparationPräsentation Presentation2003
5Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter ; Hébert, Cécile ; Zandbergen, H.W. Unexplained Thickness Dependence in the Si Loss Function at 0.14 eV Energy ResolutionPräsentation Presentation2003
6Stöger-Pollach, Michael ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter ; Zandbergen, H.W. ; Rau, B. ; Gall, S. SUB-eV Core Level Shifts in Si Grain Boundaries and NanotwinsPräsentation Presentation2003
7Stöger-Pollach, Michael ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter ; Zandbergen, H.W. Thickness dependent loss function of Si at 0.14 e V energy resolutionPräsentation Presentation2003
8Stöger-Pollach, Michael ; Karl-Rückert, Eva C. ; Hébert, Cécile ; Rau, B. ; Zandbergen, H.W. ; Schattschneider, Peter ; Gall, S. Investigations of Core Level States in Epitaxially Grown Si Layers by EELSPräsentation Presentation2003
9Stöger-Pollach, Michael ; Zandbergen, H.W. ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter Improvement of bulk - surface ELNES separation by use of a monochromatorPräsentation Presentation2002