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Offi, F.
 

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1Salvat-Pujol, Francesc ; Werner, Wolfgang S.M. ; Smekal, Werner ; Khalid, Rahila ; Aumayr, Friedrich ; Störi, Herbert ; Ruocco, Alessandro ; Offi, F. ; Stefani, Giovanni ; Iacobucci, Stefano Contribution of Surface Plasmon Decay to Secondary Electron Emission from an Al SurfaceArtikel Article2012
2Offi, F. ; Werner, W. S. M. ; Sacchi, M. ; Torelli, P. ; Cautero, M. ; Cautero, G. ; Fondacaro, A. ; Huotari, S. ; Monaco, G. ; Paolicelli, G. ; Smekal, W. ; Stefani, G. ; Panaccione, G. Comparison of hard and soft x-ray photoelectron spectra of siliconArtikel Article2007
3Werner, Wolfgang S.M. ; Smekal, Werner ; Störi, Herbert ; Winter, H. ; Stefani, Giovanni ; Ruocco, Alessandro ; Offi, F. ; Gotter, R. ; Morgante, A. ; Tommasini, F. Non destructive depth-profiling with Auger-photoelectron coincidence spectroscopyPräsentation Presentation2005
4Werner, Wolfgang S.M. ; Smekal, Werner ; Störi, Herbert ; Winter, Hannspeter ; Stefani, Giovanni ; Ruocco, Alessandro ; Offi, F. ; Gotter, R. ; Morgante, A. ; Tommasini, F. Emission depth selectivity with Auger-Photoelectron coincidence spectroscopyPräsentation Presentation2005
5Werner, Wolfgang S.M. ; Smekal, Werner ; Störi, Herbert ; Winter, Hannspeter ; Stefani, Giovanni ; Ruocco, Alessandro ; Offi, F. ; Gotter, R. ; Morgante, A. ; Tommasini, F. Emission-Depth-Selective Auger Photoelectron Coincidence SpectroscopyArtikel Article2005
6Werner, Wolfgang S.M. ; Smekal, Werner ; Störi, Herbert ; Winter, Hannspeter ; Stefani, Giovanni ; Ruocco, Alessandro ; Offi, F. ; Gotter, R. ; Morgante, A. ; Tommasini, F. Emission-Depth-Selective Auger Photoelectron Coincidence SpectroscopyArtikel Article2005