JEELS 06 - Cinquième "journées de spectroscopie de pertes d'énergie des élecrons"
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JEELS 06 - Cinquième "journées de spectroscopie de pertes d'énergie des élecrons"
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| Preview | Authors / Editors | Title | Type | Issue Date | |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | Galek, Thomasz ; Stöger-Pollach, Michael ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter | Kramers-Kronig Analysis and Data Processing in VEELS | Konferenzbeitrag Inproceedings | 2006 | |
| 2 | Galek, Thomasz ; Hébert, Cécile ; Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter | Metal Induced Gap States at Si / Al Interface | Konferenzbeitrag Inproceedings | 2006 | |
| 3 | Schattschneider, Peter ; Rubino, Stefano ; Hébert, Cécile ; Carlino, E. ; Novák, P. ; Rusz, J. | Observation of Circular Dichroism in EELS | Konferenzbeitrag Inproceedings | 2006 | |
| 4 | Stöger-Pollach, Michael ; Laister, A. ; Galek, Thomasz ; Schattschneider, Peter | Relativistic effects in valence EELS | Konferenzbeitrag Inproceedings | 2006 |