20. Workshop Testmethoden und Vuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen
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20. Workshop Testmethoden und Vuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen
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Preview | Authors / Editors | Title | Type | Issue Date | |
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1 | Grahsl, Julian ; Handl, Thomas ; Steininger, Andreas | Exploring the Usefulness of the Gate-level Stuck-at Fault Model for Muller C-Elements | Konferenzbeitrag Inproceedings | 2008 |