20. Workshop Testmethoden und Vuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen

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		Preview	Authors / Editors	Title	Type	Issue Date
	1		Grahsl, Julian ; Handl, Thomas ; Steininger, Andreas	Exploring the Usefulness of the Gate-level Stuck-at Fault Model for Muller C-Elements	Konferenzbeitrag Inproceedings	2008