20. Workshop Testmethoden und Vuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen

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20. Workshop Testmethoden und Vuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen
 

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1Grahsl, Julian ; Handl, Thomas ; Steininger, Andreas Exploring the Usefulness of the Gate-level Stuck-at Fault Model for Muller C-ElementsKonferenzbeitrag Inproceedings 2008