Microscopy and Microanalysis

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1Bugnet, Matthieu ; Radtke, Guillaume ; Löffler, Stefan ; Schattschneider, Peter ; Hawthorn, David ; Sawatzky, George ; Botton, Gianluigi A. Aberration corrected STEM-EELS study of the hole distribution in cuprate superconductorsKonferenzbeitrag Inproceedings 2015
2Schattschneider, P. EMCD – Magnetic Chiral Dichroism in the Electron MicroscopeKonferenzbeitrag Inproceedings2014
3Hébert, Cécile ; Satz, A. ; Kothleitner, G. ; Eisenmenger-Sittner, Christoph ; Schattschneider, Peter Lifetime of hot electrons in metals retrived from low loss EELSKonferenzbeitrag Inproceedings2006
4Löffler, Stefan Mapping Electronic Orbitals in Real SpaceKonferenzbeitrag Inproceedings 2015
5Galek, Thomasz ; Hébert, Cécile ; Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter Numerical Aspects of Valence Electron Energy Loss SpectrometryKonferenzbeitrag Inproceedings2006
6Hébert, Cécile ; Rubino, Stefano ; Schattschneider, Peter ; Rusz, J. ; Novák, P. ; Hurm, C. ; Zweck, J. Observation of Magnetic Circular Dichroism in the Electron MicroscopeKonferenzbeitrag Inproceedings2006
7Stöger-Pollach, Michael ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter ; Laister, A. Retardation Effects in Valence - EELS SpectraKonferenzbeitrag Inproceedings2006
8Löffler, Stefan ; Schachinger, Thomas ; Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter The Surprising Dynamics of Electron Vortex BeamsKonferenzbeitrag Inproceedings2015