Schattschneider, Peter
Full name Familienname, Vorname
Schattschneider, Peter
Main Affiliation Organisationszuordnung
Subject
- 1 Angle resolved X-ray photoelectron spectroscopy (ARXPS)
- 1 Anisotropy
- 1 Elastic scattering
- 1 Metrology
- 1 Non-destructive Depth Profiling
- 1 Surface analysis
- 1 X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
- 1 XPS/ Winkelaufgelöste Röntgenphotoelektronenspektroskopie (ARXPS)/Elastische Streuung/Anisotropie/Tiefenprofilmessung/Oberflächenanalyse/Metrologie
Date issued
- 1 2010
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