Name Card

Full name Familienname, Vorname
Kienberger, F.
 

Own Publications Eigene Publikationen

Results 1-6 of 6 (Search time: 0.001 seconds).

PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Kasper, M. ; Gramse, G. ; Hoffmann, J. ; Gaquiere, C. ; Feger, R. ; Stelzer, A. ; Smoliner, Jürgen ; Kienberger, F. Metal-oxide-semiconductor capacitors and Schottky diodes studied with scanning microwave microscopy at 18 GHzArtikel Article 2014
2Huber, H. P. ; Humer, I. ; Hochleitner, M. ; Fenner, M. ; Moertelmaier, M. ; Rankl, C. ; Imtiaz, A. ; Wallis, T. M. ; Tanbakuchi, H. ; Hinterdorfer, P. ; Kabos, P. ; Smoliner, J. ; Kopanski, J. J. ; Kienberger, F. Calibrated nanoscale dopant profiling using a scanning microwave microscopeArtikel Article2012
3Humer, I. ; Eckhardt, C. ; Huber, H. P. ; Kienberger, F. ; Smoliner, J. Tip geometry effects in dopant profiling by scanning microwave microscopyArtikel Article2012
4Humer, I. ; Huber, H. P. ; Kienberger, F. ; Danzberger, J. ; Smoliner, J. Phase and amplitude sensitive scanning microwave microscopy/spectroscopy on metal-oxide-semiconductor systemsArtikel Article2012
5Imtiaz, A. ; Wallis, T. M. ; Lim, S.-H. ; Tanbakuchi, H. ; Huber, H.-P. ; Hornung, A. ; Hinterdorfer, P. ; Smoliner, J. ; Kienberger, F. ; Kabos, P. Frequency-selective contrast on variably doped p-type silicon with a scanning microwave microscopeArtikel Article2012
6Humer, I. ; Bethge, O. ; Bodnarchuk, M. ; Kovalenko, M. ; Yarema, M. ; Heiss, W. ; Huber, H. P. ; Hochleitner, M. ; Hinterdorfer, P. ; Kienberger, F. ; Smoliner, J. Scanning microwave microscopy and scanning capacitance microscopy on colloidal nanocrystalsArtikel Article2011