Name Card

Full name Familienname, Vorname
Fürböck, Christoph
 
Main Affiliation Organisations­zuordnung
 

Own Publications Eigene Publikationen

Results 1-9 of 9 (Search time: 0.001 seconds).

PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Litzenberger, Martin ; Fürböck, Christoph ; Bychikhin, Sergey ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich Scanning Heterodyne Interferometer Setup for the Time-Resolved Thermal and Free-Carrier Mapping in Semiconductor DevicesArtikel Article 2005
2Fürböck, Christoph Characterization of semiconductor power devices : laser interferometry and failure analysisThesis Hochschulschrift2001
3Fürböck, Christoph ; Esmark, Kai ; Litzenberger, Martin ; Pogany, Dionyz ; Groos, Gerhard ; Zelsacher, R. ; Stecher, Matthias ; Gornik, Erich Thermal and free carrier concentration mapping during ESD event in Smart Power ESD protection devices using a modified laser interferometry techniquePräsentation Presentation2000
4Pogany, Dionyz ; Esmark, Kai ; Litzenberger, Martin ; Fürböck, Christoph ; Gossner, Harald ; Gornik, Erich Bulk and surface degradation mode in 0.35um technology gg-nMOS ESD protection devicesPräsentation Presentation2000
5Gornik, Erich ; Pogany, Dionyz ; Fürböck, Christoph ; Litzenberger, Martin New characterisation methods for development of ESD protection structuresBericht Report2000
6Gornik, Erich ; Pogany, Dionyz ; Fürböck, Christoph ; Litzenberger, Martin Endbericht für Ministery ProjektBericht Report2000
7Litzenberger, Martin ; Esmark, Kai ; Pogany, Dionyz ; Fürböck, Christoph ; Gossner, Harald ; Gornik, Erich ; Fichtner, W. Study of tiggering inhomogeneities in gg-nMOS ESD protection devices via thermal mapping using bachside laser interferometryPräsentation Presentation2000
8Gornik, Erich ; Pogany, Dionyz ; Fürböck, Christoph Report on failure analysis of semiconductor devicesBericht Report2000
9Seliger, N. ; Pogany, D. ; Fürböck, C. ; Habaš, P. ; Gornik, E. ; Stoisiek, M. A Laser Beam Method for Evaluation of Thermal Time Constant in Smart Power DevicesArtikel Article 1997