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Litzenberger, Martin
 
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1Papp, Adam ; Wiesmeyr, Christoph ; Litzenberger, Martin ; Garn, Heinrich ; Kropatsch, Walter Train Detection and Tracking in Optical Time Domain Reflectometry (OTDR) SignalsArtikel Article 2016
2Papp, Adam ; Wiesmeyr, Christoph ; Litzenberger, Martin ; Garn, Heinrich ; Kropatsch, Walter A real-time algorithm for train position monitoring using optical time-domain reflectometryKonferenzbeitrag Inproceedings 2016
3Litzenberger, Martin ; Fürböck, Christoph ; Bychikhin, Sergey ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich Scanning Heterodyne Interferometer Setup for the Time-Resolved Thermal and Free-Carrier Mapping in Semiconductor DevicesArtikel Article 2005
4Stadler, Wolfgang ; Esmark, Kai ; Reynders, K ; Zubeidat, M ; Graf, M. ; Wilkening, W ; Willemen, Joost ; Qu, N ; Mettler, S ; Etherton, M ; Nuernbergk, D ; Wolf, H ; Gieser, H. ; Soppa, W. ; Heyn, V.De ; Natarajan, M ; Groeseneken, G. ; Morena, E ; Stella, R ; Andreini, A. ; Litzenberger, Martin ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Foss, C ; Konrad, A ; Frank, M Test Circuits for Fast and Reliable Assessment of CDM Robustness of I/O stagesArtikel Article 2005
5Litzenberger, Martin Investigation of internal behavior in CMOS ESD protection devices under high current stressThesis Hochschulschrift2003
6Pogany, Dionyz ; Bychikhin, Sergey ; Dubec, Victor ; Blaho, M. ; Litzenberger, Martin ; Kuzmik, Jan ; Pflügl, Christian ; Strasser, Gottfried ; Gornik, Erich Transient interferometric mapping of temperature and free carriers in semiconductor devicesKonferenzbeitrag Inproceedings2003
7Pflügl, Christian ; Litzenberger, Martin ; Schrenk, Werner ; Anders, Solveig ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Strasser, Gottfried Thermal Dynamics of CaAs-based quantum cascade lasersPräsentation Presentation2003
8Pogany, Dionyz ; Bychikhin, Sergey ; Pflügl, Christian ; Dubec, Victor ; Kuzmik, Jan ; Blaho, M. ; Litzenberger, Martin ; Strasser, Gottfried ; Gornik, Erich Thermal mapping of semiconductor devices with nanosecond resolutionPräsentation Presentation2003
9Pogany, Dionyz ; Kuzmik, Jan ; Darmo, Juraj ; Litzenberger, Martin ; Bychikhin, Sergey ; Unterrainer, Karl ; Gornik, Erich ; Mozolova, Z. ; Hascik, S. ; Lalinsky, T. Electrical fied mapping in InGaPHEMTs and GaAs teraherz emitters using backside infrared OBIC techniquePräsentation Presentation2002
10Pflügl, Christian ; Litzenberger, Martin ; Schrenk, Werner ; Anders, Solveig ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Strasser, Gottfried Interferometric Temperature Mapping of GaAs-based Quantum Cascade Laser RidgesPräsentation Presentation2002
11Stadler, Wolfgang ; Esmark, Kai ; Gossner, Harald ; Streibl, M. ; Wendel, M. ; Fichtner, W. ; Litzenberger, Martin ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich Device Simulation and Backside Laser Interferometry - Powerful Tools for ESD Protection DevelopmentPräsentation Presentation2002
12Litzenberger, Martin ; Pichler, R. ; Bychikhin, Sergey ; Pogany, Dionyz ; Esmark, Kai ; Gossner, Harald ; Gornik, Erich Effect of pulse risetime on trigger homogeneity in single finger grounded gate nMOSFET electrostatic discharge protection structuresPräsentation Presentation2001
13Bychikhin, Sergey ; Litzenberger, Martin ; Pichler, R. ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Groos, Gerhard ; Stecher, Matthias Thermal and free carrier laser interferometric mapping and failure analysis of anti-serial smart power ESD protection structuresPräsentation Presentation2001
14Fürböck, Christoph ; Esmark, Kai ; Litzenberger, Martin ; Pogany, Dionyz ; Groos, Gerhard ; Zelsacher, R. ; Stecher, Matthias ; Gornik, Erich Thermal and free carrier concentration mapping during ESD event in Smart Power ESD protection devices using a modified laser interferometry techniquePräsentation Presentation2000
15Pogany, Dionyz ; Esmark, Kai ; Litzenberger, Martin ; Fürböck, Christoph ; Gossner, Harald ; Gornik, Erich Bulk and surface degradation mode in 0.35um technology gg-nMOS ESD protection devicesPräsentation Presentation2000
16Gornik, Erich ; Pogany, Dionyz ; Fürböck, Christoph ; Litzenberger, Martin New characterisation methods for development of ESD protection structuresBericht Report2000
17Gornik, Erich ; Pogany, Dionyz ; Fürböck, Christoph ; Litzenberger, Martin Endbericht für Ministery ProjektBericht Report2000
18Litzenberger, Martin ; Esmark, Kai ; Pogany, Dionyz ; Fürböck, Christoph ; Gossner, Harald ; Gornik, Erich ; Fichtner, W. Study of tiggering inhomogeneities in gg-nMOS ESD protection devices via thermal mapping using bachside laser interferometryPräsentation Presentation2000

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