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Dipl.-Ing.
 
Full name Familienname, Vorname
Steiger-Thirsfeld, Andreas
 

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PreviewAuthors / EditorsTitleTypeIssue Date
1Lugstein, Alois ; Greil, Johannes Maximilian ; Steinmair, Mathias ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Bertagnolli, Emmerich Why putting strain on nanowiresPräsentation Presentation2011
2Schachinger, Thomas ; Löffler, Stefan ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Schattschneider, Peter Vorticity filtering for magnetic dichroism measurements with nanometre spatial resolutionPräsentation Presentation2017
3Schachinger, Thomas ; Löffler, Stefan ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Stöger-Pollach, Michael ; Schneider, Sebastian ; Pohl, Darius ; Rellinghaus, Bernd ; Schattschneider, Peter Vortex filter-EMCD - challenges and prospects of an alternative EMCD techniqueKonferenzbeitrag Inproceedings2017
4Schachinger, Thomas ; Löffler, Stefan ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter Vortex Filter EMCD: Towards an Alternative EMCD ApproachPräsentation Presentation2017
5Schachinger, Thomas ; Löffler, Stefan ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Stöger-Pollach, Michael ; Stöger-Pollach, Michael ; Tavabi, A.H. ; Venturi, F. ; Grillo, Vincenzo ; Horák, Michal ; Eisenmenger-Sittner, Christoph ; Dunin-Borkowski, Rafal ; Schattschneider, Peter Vortex filter EMCD: Experimental evidence for sub-nanometre resolutionKonferenzbeitrag Inproceedings2019
6Wallisch, Wolfgang ; Stöger-Pollach, Michael ; Navickas, Edvinas ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Bernardi, Johannes VEELS investigation of perovskite manganite interfacesKonferenzbeitrag Inproceedings2016
7Lugstein, Alois ; Steinmair, Mathias ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Kosina, Hans ; Bertagnolli, Emmerich Tuning the Electronic Properties of Ultra-strained Silicon NanowiresPräsentation Presentation2010
8Whitmore, Lawrence Charles ; Koch, Thomas ; Abermann, Stephan ; Whitmore, Karin ; Steiger-Thirsfeld, Andreas Transmission electron microscopy of indented and scratched titanium-alumina layers on siliconKonferenzbeitrag Inproceedings2009
9Schachinger, Thomas ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Löffler, Stefan ; Stöger-Pollach, Michael ; Schneider, Sebastian ; Rellinghaus, Bernd ; Schattschneider, Peter Towards EMCD with an electron vortex filterKonferenzbeitrag Inproceedings2016
10Bühlmeyer, Christian ; Plessing, Lukas ; Waldauf, Christoph ; Ernits, Kaia ; Neisser, Axel ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Stöger-Pollach, Michael Thermal stability of CZTS-monograins in photovoltaic devices, investigation of diffusion processes in the photoactive regionPräsentation Presentation2014
11Gökdeniz, Z.G. ; Khatibi, Golta ; Gierl-Mayer, Christian ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Mündlein, Martin Temperature Dependent Physical Properties of Sintered Silver Layers for Power ElectronicsKonferenzbeitrag Inproceedings2020
12Löffler, Stefan ; Hejral, Uta ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Stierle, Andreas ; Bernardi, Johannes TEM investigation of PtRh nanoparticles on MgAl2O4(001) for catalysisKonferenzbeitrag Inproceedings2014
13Löffler, Stefan ; Hejral, Uta ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Stierle, Andreas ; Bernardi, Johannes TEM investigation of PtRh nanoparticles on MgAl2O4Präsentation Presentation2014
14Greil, Johannes Maximilian ; Lugstein, Alois ; Burchhart, Thomas ; Mijic, Mario ; Zeiner, Clemens ; Steinmair, Mathias ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Bertagnolli, Emmerich Raman microscopy and electronic characterization of ultra-strained Si/Ge nanowiresPräsentation Presentation2011
15Greil, Johannes Maximilian ; Lugstein, Alois ; Burchhart, Thomas ; Mijic, Mario ; Zeiner, Clemens ; Steinmair, Mathias ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Bertagnolli, Emmerich Raman microscopy and electronic characterization of ultra-strained Si/Ge nanowiresPräsentation Presentation2011
16Greil, Johannes Maximilian ; Lugstein, Alois ; Steinmair, Mathias ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Bertagnolli, Emmerich Raman and electronic characterization of ultra-strained Si/Ge nanowiresPräsentation Presentation2011
17Schachinger, Thomas ; Löffler, Stefan ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Stöger-Pollach, Michael ; Tavabi, A.H. ; Venturi, F. ; Grillo, Vincenzo ; Horák, Michal ; Eisenmenger-Sittner, Christoph ; Dunin-Borkowski, Rafal ; Schattschneider, Peter Progress in vortex filter EMCD: Experimental evidence and sub-nanometre resolutionKonferenzbeitrag Inproceedings2019
18Schachinger, Thomas ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Löffler, Stefan ; Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter ; Schneider, Sebastian ; Pohl, Darius ; Rellinghaus, Bernd Preparation of holographic vortex masks for EMCD vortex filter experiments using advanced FIB milling strategiesPräsentation Presentation2016
19Schachinger, Thomas ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Löffler, Stefan ; Stöger-Pollach, Michael ; Schneider, Sebastian ; Pohl, Darius ; Rellinghaus, Bernd ; Schattschneider, Peter Preparation of high fidelity holographic vortex masks using advanced FIB milling strategiesKonferenzbeitrag Inproceedings2016
20Zeininger, Johannes ; Winkler, Philipp ; Raab, Maximilian ; Suchorski, Yuri ; Prieto, Mauricio J. ; Tănase, Liviu C. ; de Souza Caldas, Lucas ; Tiwari, Aarti ; Schmidt, Thomas ; Stöger-Pollach, Michael ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Roldan Cuenya, Beatriz ; Rupprechter, Günther Pattern Formation in Catalytic H₂ Oxidation on Rh: Zooming in by Correlative MicroscopyArticle Artikel 2022