Name Card

Full name Familienname, Vorname
Beckhoff, B.
 

Own Publications Eigene Publikationen

Results 1-20 of 34 (Search time: 0.003 seconds).

PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Kregsamer, Peter ; Nutsch, A. ; Borionetti, G. ; Beckhoff, B. ; Müller, M. ; Polignano, M.L. ; Pepponi, Giancarlo ; Fittschen, U. ; Streli, Christina Round robin test for TXRF and ToF-SIMS on various types of Ni samples on Si wafer surfaces within the network ANNAPräsentation Presentation2011
2Pepponi, Giancarlo ; Giubertoni, D. ; Bersani, M. ; Meirer, F. ; Ingerle, D. ; Steinhauser, Georg ; Streli, Christina ; Hoenicke, P. ; Beckhoff, B. Grazing incidence x-ray fluorescence and secondary ion mass spectrometry combined approach for the characterization of ultrashallow arsenic distribution in siliconArtikel Article2010
3Beckhoff, B. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polgnano, M.L. ; Codegoni, C. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Lazzeri, P. ; Gennaro, S. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Investigation of Spin-coated inorganic contamination on Si surfacs by various analytical techniquesPräsentation Presentation2010
4Nutsch, A. ; Beckhoff, B. ; Altmann, R. ; Polignano, M.L. ; Cazzini, E. ; Codegoni, D. ; Borionetti, G. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Mantler, C. ; Streli, Christina Comparability of TXRF Systems at different laboratoriesPräsentation Presentation2009
5Pepponi, Giancarlo ; Meirer, F. ; Giubertoni, D. ; Ingerle, D. ; Steinhauser, Georg ; Streli, Christina ; Hoenicke, P. ; Beckhoff, B. ; Bersani, M. Grazing Incidence x-ray fluorescence and secondary ion mass spectrometry combined approach for characterization of ultra shallow arsenic distribution in siliconPräsentation Presentation2009
6Giubertoni, D. ; Pepponi, Giancarlo ; Beckhoff, B. ; Hoenicke, P. ; Gennaro, S. ; Meirer, F. ; Ingerle, D. ; Steinhauser, Georg ; Fried, M. ; Petrik, P. ; Parisini, A. ; Reading, M.A. ; Streli, Christina ; van den Berg, J.A. ; Bersani, M. Multi-technique characterization of arsenic ultra shallow junctions in silicon within the ANNA consortiumPräsentation Presentation2009
7Nutsch, A. ; Beckhoff, B. ; Altmann, R. ; Polignano, M.L. ; Borionetti, G. ; Kregsamer, Peter ; Streli, Christina ; Pepponi, Giancarlo Comparison of TXRF Systems from Si wafer surface analysis at different laboratories of ANNPräsentation Presentation2009
8Nutsch, A. ; Beckhoff, B. ; Altmann, R. ; Polignano, M.L. ; Borionetti, G. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Mantler, C. ; Streli, Christina Comparability of TXRF Systems at different laboratoriesKonferenzbeitrag Inproceedings2009
9Nutsch, A. ; Beckhoff, B. ; Altmann, R. ; van den Berg, J.A. ; Giubertoni, D. ; Hoenicke, P. ; Bersani, M. ; Leibold, A. ; Meirer, F. ; Müller, M. ; Pepponi, Giancarlo ; Otto, M. ; Petrik, P. ; Reading, M.A. ; Pfitzner, L. ; Ryssel, H. Complementary metrology within a European joint laboratoryKonferenzbeitrag Inproceedings 2009
10Beckhoff, B. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polignano, M.L. ; Codegoni, D. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Gennaro, S. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Assessing Various Analytical Techniques With Different Lateral Resolution By Investigating Spin-coated Inorganic Contamination On Si SurfacesKonferenzbeitrag Inproceedings 2009
11Beckhoff, B. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polignano, M.L. ; Codegoni, D. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Lazzeri, P. ; Gennaro, S. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Highly sensitive detection of inorganic contaminationKonferenzbeitrag Inproceedings 2009
12Beckhoff, B. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polignano, M.L. ; Codegoni, D. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Lazzeri, P. ; Gennaro, S. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Assessing various analytical techniques with different lateral resolution by investigating spin-coated inorganic contamination on Si surfacesPräsentation Presentation2009
13Beckhoff, B. ; Kolbe, M. ; Hahn, O. ; Karydas, A.G. ; Zarkadas, Ch. ; Sokaras, D. ; Mantler, Michael Reference-free x-ray fluorescence analysis of an ancient Chinese ceramicArtikel Article 14-May-2008
14Pepponi, Giancarlo ; Giubertoni, D. ; Bersani, M. ; Zöger, N. ; Streli, Christina ; Beckhoff, B. ; Hoenicke, P. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Meirer, F. Grazing Incidence X-Ray Fluorescence characterisation of Ultra Shallow Junctions in the ANNA consortiumPräsentation Presentation2008
15Beckhoff, B. ; Kolbe, M. ; Mantler, Michael Reference-free X-ray fluorescence analysisPräsentation Presentation2007
16Mantler, Michael ; Beckhoff, B. ; Kolbe, M. ; Hahn, O. ; Karydas, A.G. ; Zarkadas, Ch. ; Sokaras, D. Reference-free X-ray fluorescence analysis: Part 2: Theoretical ConsiderationsPräsentation Presentation2007
17Beckhoff, B. ; Kolbe, M. ; Hahn, O. ; Karydas, A.G. ; Zarkadas, Ch. ; Sokaras, D. ; Mantler, Michael Reference-free X-ray fluorescence analysis with synchrotron radiationPräsentation Presentation2007
18Beckhoff, B. ; Gerlach, M. ; Kolbe, M. ; Müller, Martin ; Ulm, G. ; Karydas, A.G. ; Zarkadas, Ch. ; Geralis, T. ; Kousuris, K. ; Kawahara, N. ; Yamada, T. ; Mantler, Michael Enhancement of x-ray fluorescence of light elements by photoelectron secondary excitationPräsentation Presentation2006
19Streli, Christina ; Wobrauschek, Peter ; Fabry, L. ; Pahlke, S. ; Comin, F. ; Barrett, R. ; Pianetta, P. ; Lüning, K. ; Beckhoff, B. Total-Reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Wafer AnalysisBuchbeitrag Book Contribution2006
20Beckhoff, B. ; Gerlach, M. ; Kolbe, M. ; Müller, Martin ; Ulm, G. ; Karydas, A.G. ; Zarkadas, Ch. ; Geralis, T. ; Kousouris, K. ; Kawahara, N. ; Yamada, T. ; Mantler, Michael Quantitative investigation of the enhancement of X-ray fluorescence of light elements by photoelectron secondary exitationPräsentation Presentation2005

Contributing Publications Mitbeteiligte Publikationen

Results 1-2 of 2 (Search time: 0.001 seconds).

PreviewAuthors / EditorsTitleTypeIssue Date
1Streli, Christina ; Wobrauschek, Peter ; Fabry, L. ; Pahlke, S. ; Comin, F. ; Barrett, R. ; Pianetta, P. ; Lüning, K. ; Beckhoff, B. Total-Reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Wafer AnalysisBuch Book2006
2Streli, Christina ; Wobrauschek, Peter ; Fabry, L. ; Pahlke, S. ; Comin, F. ; Barrett, R. ; Pianetta, P. ; Lüning, K. ; Beckhoff, B. Total-Reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Wafer AnalysisBuchbeitrag Book Contribution2006