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Toledano-Luque, M.
 

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1Kaczer, B. ; Grasser, T. ; Franco, J. ; Toledano-Luque, M. ; Roussel, J. ; Cho, M. ; Simoen, E. ; Groeseneken, G. Recent Trends in Bias Temperature InstabilityBuchbeitrag Book Contribution2015
2Kaczer, Ben ; Chen, C. ; Weckx, P. ; Roussel, Ph. J. ; Toledano-Luque, M. ; Cho, M. ; Watt, J. T. ; Chanda, K. ; Groeseneken, G. ; Grasser, Tibor Maximizing reliable performance of advanced CMOS circuits-A case studyKonferenzbeitrag Inproceedings2014
3Kaczer, Ben ; Chen, C. S. ; Watt, J. T. ; Chanda, K. ; Weckx, P. ; Toledano-Luque, M. ; Groeseneken, G. ; Grasser, Tibor Reliability and Performance Considerations for NMOSFET Pass Gates in FPGA ApplicationsKonferenzbeitrag Inproceedings2013
4Franco, J. ; Kaczer, Ben ; Roussel, Philippe J. ; Toledano-Luque, M. ; Weckx, P. ; Grasser, Tibor Relevance of non-exponential single-defect-induced threshold voltage shifts for NBTI VariabilityKonferenzbeitrag Inproceedings2013
5Franco, J. ; Kaczer, B. ; Toledano-Luque, M. ; Roussel, Ph.J. ; Cho, M. ; Kauerauf, T. ; Mitard, J. ; Eneman, G. ; Witters, L. ; Grasser, T. ; Groeseneken, G. Superior Reliability of High Mobility (Si)Ge Channel pMOSFETsArtikel Article2013
6Grasser, Tibor ; Rott, K. ; Reisinger, H. ; Wagner, Paul-Jürgen ; Gös, Wolfgang ; Schanovsky, Franz ; Waltl, Michael ; Toledano-Luque, M. ; Kaczer, Ben Advanced Characterization of Oxide Traps: The Dynamic Time-Dependent Defect SpectroscopyKonferenzbeitrag Inproceedings2013
7Gös, Wolfgang ; Toledano-Luque, M. ; Baumgartner, Oskar ; Schanovsky, Franz ; Kaczer, Ben ; Grasser, Tibor A Comprehensive Model for Correlated Drain and Gate Current FluctuationsKonferenzbeitrag Inproceedings 2013
8Weckx, P. ; Kaczer, Ben ; Toledano-Luque, M. ; Grasser, Tibor ; Roussel, Ph. J. ; Kukner, H. ; Raghavan, P. ; Catthoor, F. ; Groeseneken, G. Defect-based Methodology for Workload-dependent Circuit Lifetime Projections - Application to SRAMKonferenzbeitrag Inproceedings2013
9Kaczer, B. ; Toledano-Luque, M. ; Goes, W. ; Grasser, T. ; Groeseneken, G. Gate Current Random Telegraph Noise and Single Defect ConductionArtikel Article2013
10Franco, J. ; Kaczer, Ben ; Toledano-Luque, M. ; Roussel, Ph. J. ; Groeseneken, G. ; Schwarz, Benedikt ; Bina, Markus ; Waltl, Michael ; Wagner, Paul-Jürgen ; Grasser, Tibor Reduction of the BTI Time-Dependent Variability in Nanoscaled MOSFETs by Body BiasKonferenzbeitrag Inproceedings2013
11Toledano-Luque, M. ; Kaczer, Ben ; Franco, J. ; Roussel, Philippe J. ; Bina, Markus ; Grasser, Tibor ; Cho, M. ; Weckx, P. ; Groeseneken, Guido Degradation of time dependent variability due to interface state generationKonferenzbeitrag Inproceedings 2013
12Gös, Wolfgang ; Toledano-Luque, M. ; Baumgartner, Oskar ; Bina, Markus ; Schanovsky, Franz ; Kaczer, Ben ; Grasser, Tibor Understanding Correlated Drain and Gate Current FluctuationsKonferenzbeitrag Inproceedings2013
13Gös, Wolfgang ; Toledano-Luque, M. ; Baumgartner, Oskar ; Bina, Markus ; Schanovsky, Franz ; Kaczer, Ben ; Grasser, Tibor Understanding Correlated Drain and Gate Current FluctuationsKonferenzbeitrag Inproceedings2013
14Kaczer, B. ; Afanas'ev, V. V. ; Rott, K. ; Cerbu, F. ; Franco, J. ; Goes, W. ; Grasser, T. ; Madia, O. ; Nguyen, A. P. D. ; Stesmans, A. ; Reisinger, H. ; Toledano-Luque, M. ; Weckx, P. Experimental characterization of BTI defectsKonferenzbeitrag Inproceedings2013
15Baumgartner, O. ; Bina, M. ; Goes, W. ; Schanovsky, F. ; Toledano-Luque, M. ; Kaczer, B. ; Kosina, H. ; Grasser, T. Direct tunneling and gate current fluctuationsKonferenzbeitrag Inproceedings2013
16Grasser, T. ; Reisinger, H. ; Rott, K. ; Toledano-Luque, M. ; Kaczer, B. On the microscopic origin of the frequency dependence of hole trapping in pMOSFETsKonferenzbeitrag Inproceedings2012
17Franco, J. ; Kaczer, Ben ; Mitard, J. ; Toledano-Luque, M. ; Crupi, F. ; Eneman, G. ; Roussel, Ph. J. ; Grasser, Tibor ; Cho, M. ; Kauerauf, T. ; Witters, L. ; Hellings, Geert ; Ragnarsson, L. A. ; Horiguchi, N. ; Heyns, Marc M. ; Groeseneken, G. Superior reliability and reduced Time-Dependent variability in high-mobility SiGe channel pMOSFETs for VLSI logic applicationsKonferenzbeitrag Inproceedings2012
18Franco, J. ; Kaczer, Ben ; Toledano-Luque, M. ; Bukhori, Muhammad Faiz ; Roussel, Ph. J. ; Grasser, Tibor ; Asenov, A ; Groeseneken, G. Impact of Individual Charged Gate-Oxide Defects on the Entire ID -VG Characteristic of Nanoscaled FETsArtikel Article2012
19Toledano-Luque, M. ; Kaczer, Ben ; Simoen, E. ; Degraeve, R. ; Franco, J. ; Roussel, Ph. J. ; Grasser, Tibor ; Groeseneken, G. Correlation of Single Trapping and Detrapping Effects in Drain and Gate Currents of Nanoscaled nFETs and pFETsKonferenzbeitrag Inproceedings2012
20Grasser, Tibor ; Kaczer, Ben ; Reisinger, H. ; Wagner, Paul-Jürgen ; Toledano-Luque, M. On the Frequency Dependence of the Bias Temperature InstabilityKonferenzbeitrag Inproceedings2012