Name Card

Full name Familienname, Vorname
Nutsch, A.
 

Own Publications Eigene Publikationen

Results 1-18 of 18 (Search time: 0.001 seconds).

PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Horntrich, C. ; Kregsamer, Peter ; Smolek, S. ; Maderitsch, A. ; Wobrauschek, Peter ; Streli, Christina ; Simon, R. ; Nutsch, A. ; Knoerr, M. Influence of the excitation energy on absorption effects in TXRF analysisPräsentation Presentation2011
2Horntrich, C. ; Kregsamer, Peter ; Smolek, S. ; Maderitsch, A. ; Wobrauschek, Peter ; Streli, Christina ; Simon, R. ; Nutsch, A. Improvement of calibration processes in TXRF of wafer surface analysis: Investigation of saturation effects in TXRF by comparing different sample shapesPräsentation Presentation2011
3Horntrich, C. ; Kregsamer, P. ; Smolek, S. ; Maderitsch, A. ; Wobrauschek, P. ; Simon, R. ; Nutsch, A. ; Knoerr, M. ; Streli, C. Influence of the exciation energy on absorption effects in Total Reflection X-ray Fluorescence analysisArtikel Article2011
4Horntrich, C. ; Kregsamer, Peter ; Smolek, S. ; Maderitsch, A. ; Wobrauschek, Peter ; Simon, R. ; Nutsch, A. ; Streli, Christina Influence of the excitation energy on absorption effects in TXRF analysisPräsentation Presentation2011
5Kregsamer, Peter ; Nutsch, A. ; Borionetti, G. ; Beckhoff, B. ; Müller, M. ; Polignano, M.L. ; Pepponi, Giancarlo ; Fittschen, U. ; Streli, Christina Round robin test for TXRF and ToF-SIMS on various types of Ni samples on Si wafer surfaces within the network ANNAPräsentation Presentation2011
6Horntrich, C. ; Kregsamer, Peter ; Wobrauschek, Peter ; Nutsch, A. ; Streli, Christina Improvement of calibration processes in TXRF of wafer surface analysis: Investigation of saturation effects in TXRF by comparing different sample shapesPräsentation Presentation2011
7Horntrich, C. ; Kregsamer, Peter ; Smolek, S. ; Maderitsch, A. ; Wobrauschek, Peter ; Simon, R. ; Nutsch, A. ; Knoerr, M. ; Streli, Christina Influence of the excitation energy on absorption effects in TXRF analysisPräsentation Presentation2011
8Horntrich, C. ; Kregsamer, Peter ; Smolek, S. ; Maderitsch, A. ; Wobrauschek, Peter ; Simon, R. ; Nutsch, A. ; Knoerr, M. ; Streli, Christina Influence of the excitation energy on absorption effects in TXRF analysisPräsentation Presentation2011
9Horntrich, C. ; Smolek, S. ; Maderitsch, A. ; Kregsamer, Peter ; Simon, R. ; Nutsch, A. ; Knoerr, M. ; Streli, Christina Investigation Of The Element Distribution In Txrf Samples Using Sr µxrfPräsentation Presentation2010
10Horntrich, C. ; Smolek, S. ; Maderitsch, A. ; Kregsamer, Peter ; Simon, R. ; Nutsch, A. ; Knoerr, M. ; Streli, Christina Investigation of the element distribution in TXRF samples using SR µXRFPräsentation Presentation2010
11Beckhoff, B. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polgnano, M.L. ; Codegoni, C. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Lazzeri, P. ; Gennaro, S. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Investigation of Spin-coated inorganic contamination on Si surfacs by various analytical techniquesPräsentation Presentation2010
12Nutsch, A. ; Beckhoff, B. ; Altmann, R. ; Polignano, M.L. ; Cazzini, E. ; Codegoni, D. ; Borionetti, G. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Mantler, C. ; Streli, Christina Comparability of TXRF Systems at different laboratoriesPräsentation Presentation2009
13Nutsch, A. ; Beckhoff, B. ; Altmann, R. ; Polignano, M.L. ; Borionetti, G. ; Kregsamer, Peter ; Streli, Christina ; Pepponi, Giancarlo Comparison of TXRF Systems from Si wafer surface analysis at different laboratories of ANNPräsentation Presentation2009
14Nutsch, A. ; Beckhoff, B. ; Altmann, R. ; Polignano, M.L. ; Borionetti, G. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Mantler, C. ; Streli, Christina Comparability of TXRF Systems at different laboratoriesKonferenzbeitrag Inproceedings2009
15Nutsch, A. ; Beckhoff, B. ; Altmann, R. ; van den Berg, J.A. ; Giubertoni, D. ; Hoenicke, P. ; Bersani, M. ; Leibold, A. ; Meirer, F. ; Müller, M. ; Pepponi, Giancarlo ; Otto, M. ; Petrik, P. ; Reading, M.A. ; Pfitzner, L. ; Ryssel, H. Complementary metrology within a European joint laboratoryKonferenzbeitrag Inproceedings 2009
16Beckhoff, B. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polignano, M.L. ; Codegoni, D. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Gennaro, S. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Assessing Various Analytical Techniques With Different Lateral Resolution By Investigating Spin-coated Inorganic Contamination On Si SurfacesKonferenzbeitrag Inproceedings 2009
17Beckhoff, B. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polignano, M.L. ; Codegoni, D. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Lazzeri, P. ; Gennaro, S. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Highly sensitive detection of inorganic contaminationKonferenzbeitrag Inproceedings 2009
18Beckhoff, B. ; Nutsch, A. ; Altmann, R. ; Borionetti, G. ; Pello, C. ; Polignano, M.L. ; Codegoni, D. ; Grasso, S. ; Cazzini, E. ; Bersani, M. ; Lazzeri, P. ; Gennaro, S. ; Kolbe, M. ; Müller, M. ; Kregsamer, Peter ; Posch, F. Assessing various analytical techniques with different lateral resolution by investigating spin-coated inorganic contamination on Si surfacesPräsentation Presentation2009