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Groos, Gerhard
 

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1Reggiani, Susanna ; Gnani, Elena ; Rudan, Massimo ; Baccarani, Giorgio ; Bychikhin, Sergey ; Kuzmik, Jan ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Denison, Marie ; Jensen, Nils ; Groos, Gerhard ; Stecher, Matthias Experimental investigation on carrier dynamics at the thermal breakdownKonferenzbeitrag Inproceedings 2006
2Heer, Michael ; Dubec, Victor ; Blaho, M. ; Bychikhin, Sergey ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Denison, Marie ; Stecher, Matthias ; Groos, Gerhard Automated setup for thermal imaging and electrical degradation study of power DMOS devicesArtikel Article2005
3Reggiani, Susanna ; Gnani, Elena ; Rudan, Massimo ; Baccarani, Giorgio ; Bychikhin, Sergey ; Kuzmik, Jan ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Denison, Marie ; Jensen, Nils ; Groos, Gerhard ; Stecher, Matthias Predictive device simulation for ESD protection structures validated with transient interferometric thermal-mapping experimentsKonferenzbeitrag Inproceedings2005
4Pogany, Dionyz ; Bychikhin, Sergey ; Kuzmik, Jan ; Gornik, Erich ; Denison, Marie ; Jensen, Nils ; Stecher, Matthias ; Rodin, Pavel ; Groos, Gerhard Observation of travelling current filaments in semiconductor devices using transient interferometric mappingKonferenzbeitrag Inproceedings2005
5Reggiani, Susanna ; Gnani, Elena ; Rudan, Massimo ; Baccarani, Giorgio ; Bychikhin, Sergey ; Kuzmik, Jan ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Denison, Marie ; Jensen, Nils ; Groos, Gerhard ; Stecher, Matthias A New Numerical and Experimental Analysis Tool for ESD Devices by Means of the Transient Interferometric TechniqueArtikel Article2005
6Heer, Michael ; Dubec, Victor ; Blaho, M. ; Bychikhin, Sergey ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Denison, Marie ; Stecher, Matthias ; Groos, Gerhard Automated setup for thermal imaging and electrical degradation study of power DMOS devicesPräsentation Presentation2005
7Dubec, Victor ; Bychikhin, Sergey ; Blaho, M. ; Heer, Michael ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Denison, Marie ; Jensen, Nils ; Stecher, Matthias ; Groos, Gerhard Multiple-time-instant 2D thermal mapping during a single ESD eventPräsentation Presentation2004
8Pogany, Dionyz ; Bychikhin, Sergey ; Kuzmik, Jan ; Dubec, Victor ; Jensen, Nils ; Denison, Marie ; Groos, Gerhard ; Stecher, Matthias ; Gornik, Erich Thermal Distribution During Destructive Pulses in ESD Protection Devices Using a Single-Shot Two-Dimensional Interferometric MethodArtikel Article2003
9Bychikhin, Sergey ; Litzenberger, Martin ; Pichler, R. ; Pogany, Dionyz ; Gornik, Erich ; Groos, Gerhard ; Stecher, Matthias Thermal and free carrier laser interferometric mapping and failure analysis of anti-serial smart power ESD protection structuresPräsentation Presentation2001
10Fürböck, Christoph ; Esmark, Kai ; Litzenberger, Martin ; Pogany, Dionyz ; Groos, Gerhard ; Zelsacher, R. ; Stecher, Matthias ; Gornik, Erich Thermal and free carrier concentration mapping during ESD event in Smart Power ESD protection devices using a modified laser interferometry techniquePräsentation Presentation2000