Full name Familienname, Vorname
Roussel, Ph.
 

Results 1-3 of 3 (Search time: 0.001 seconds).

PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Makarov, A. ; Kaczer, B. ; Roussel, Ph. ; Chasin, A. ; Grill, A. ; Vandemaele, M. ; Hellings, G. ; El-Sayed, A.-M. ; Grasser, T. ; Linten, D. ; Tyaginov, S. Modeling the Effect of Random Dopants on Hot-Carrier Degradation in FinFETsKonferenzbeitrag Inproceedings2019
2Toledano-Luque, M. ; Kaczer, B. ; Roussel, Ph. ; Cho, M. J. ; Grasser, T. ; Groeseneken, G. Temperature Dependence of the Emission and Capture Times of SiON Individual Traps after Positive Bias Temperature StressArtikel Article2011
3Grasser, T. ; Kaczer, B. ; Goes, W. ; Reisinger, H. ; Aichinger, Th. ; Hehenberger, Ph. ; Wagner, P.-J. ; Schanovsky, F. ; Franco, J. ; Roussel, Ph. ; Nelhiebel, M. Recent advances in understanding the bias temperature instabilityKonferenzbeitrag Inproceedings2010