Name Card

Full name Familienname, Vorname
Catthoor, F.
 

Own Publications Eigene Publikationen

Results 1-6 of 6 (Search time: 0.02 seconds).

PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Kaczer, B. ; Franco, J. ; Weckx, P. ; Roussel, Ph.J. ; Putcha, V. ; Bury, E. ; Simicic, M. ; Chasin, A. ; Linten, D. ; Parvais, B. ; Catthoor, F. ; Rzepa, G. ; Waltl, M. ; Grasser, T. A Brief Overview of Gate Oxide Defect Properties and Their Relation to MOSFET Instabilities and Device and Circuit Time-Dependent VariabilityArtikel Article 2018
2Kaczer, B. ; Franco, J. ; Weckx, P. ; Roussel, Ph.J. ; Simicic, M. ; Putcha, V. ; Bury, E. ; Cho, M. ; Degraeve, R. ; Linten, D. ; Groeseneken, G. ; Debacker, P. ; Parvais, B. ; Raghavan, P. ; Catthoor, F. ; Rzepa, G. ; Waltl, M. ; Goes, W. ; Grasser, T. The Defect-Centric Perspective of Device and Circuit Reliability - From Gate Oxide Defects to CircuitsArtikel Article 2016
3Kaczer, B. ; Franco, J. ; Weckx, P. ; Roussel, Ph. J. ; Bury, E. ; Cho, M. ; Degraeve, R. ; Linten, D. ; Groeseneken, G. ; Kukner, H. ; Raghavan, P. ; Catthoor, F. ; Rzepa, G. ; Goes, W. ; Grasser, T. The defect-centric perspective of device and circuit reliability — From individual defects to circuitsKonferenzbeitrag Inproceedings2015
4Weckx, P. ; Kaczer, Ben ; Toledano-Luque, M. ; Grasser, Tibor ; Roussel, Ph. J. ; Kukner, H. ; Raghavan, P. ; Catthoor, F. ; Groeseneken, G. Defect-based Methodology for Workload-dependent Circuit Lifetime Projections - Application to SRAMKonferenzbeitrag Inproceedings2013
5Kaczer, Ben ; Toledano-Luque, M. ; Franco, J. ; Grasser, Tibor ; Roussel, Ph. J. ; Camargo, V. V. A. ; Mahato, S. ; Simoen, E. ; Catthoor, F. ; Wirth, G.I. ; Groeseneken, G. Recent Trends in CMOS Reliability: From Individual Traps to Circuit SimulationsKonferenzbeitrag Inproceedings2011
6Kaczer, Ben ; Mahato, S. ; Valduga de Almeida Camargo, V. ; Toledano-Luque, M. ; Roussel, Ph. J. ; Grasser, Tibor ; Catthoor, F. ; Dobrovolny, P. ; Zuber, P. ; Wirth, G.I. ; Groeseneken, G. Atomistic Approach to Variability of Bias-Temperature Instability in Circuit SimulationsKonferenzbeitrag Inproceedings2011