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Roussel, Philippe J.
 

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1Wu, Zhicheng ; Franco, Jacopo ; Claes, Dieter ; Rzepa, Gerhard ; Roussel, Philippe J. ; Collaert, Nadine ; Groeseneken, Guido ; Linten, Dimitri ; Grasser, Tibor ; Kaczer, Ben Accelerated Capture and Emission (ACE) Measurement Pattern for Efficient BTI Characterization and ModelingKonferenzbeitrag Inproceedings2019
2Franco, Jacopo ; Kaczer, Ben ; Roussel, Philippe J. ; Bury, Erik ; Mertens, Hans ; Ritzenthaler, Romain ; Grasser, Tibor ; Horiguchi, Naoto ; Thean, Aaron ; Groeseneken, Guido NBTI in Si<inf>0.55</inf>Ge<inf>0.45</inf> cladding p-FinFETs: Porting the superior reliability from planar to 3D architecturesKonferenzbeitrag Inproceedings2015
3Kaczer, Ben ; Franco, Jacopo ; Roussel, Philippe J. ; Groeseneken, Guido ; Chiarella, Thomas ; Horiguchi, Naoto ; Grasser, Tibor Extraction of The Random Component of Time-Dependent Variability Using Matched PairsArtikel Article2015
4Franco, J. ; Kaczer, Ben ; Roussel, Philippe J. ; Toledano-Luque, M. ; Weckx, P. ; Grasser, Tibor Relevance of non-exponential single-defect-induced threshold voltage shifts for NBTI VariabilityKonferenzbeitrag Inproceedings2013
5Franco, Jacopo ; Kaczer, Ben ; Mitard, Jerome ; Toledano-Luque, Maria ; Roussel, Philippe J. ; Witters, Liesbeth ; Grasser, Tibor ; Groeseneken, Guido NBTI Reliability of SiGe and Ge Channel pMOSFETs With SiO2/HfO2 Dielectric StackArtikel Article2013
6Franco, Jacopo ; Kaczer, Ben ; Roussel, Philippe J. ; Mitard, Jérôme ; Cho, Moonju ; Witters, Liesbeth ; Grasser, Tibor ; Groeseneken, Guido SiGe Channel Technology: Superior Reliability Toward Ultrathin EOT Devices-Part I: NBTIArtikel Article2013
7Franco, Jacopo ; Kaczer, Ben ; Toledano-Luque, María ; Roussel, Philippe J. ; Kauerauf, Thomas ; Mitard, Jérôme ; Witters, Liesbeth ; Grasser, Tibor ; Groeseneken, Guido SiGe Channel Technology: Superior Reliability Toward Ultra-Thin EOT Devices-Part II: Time-Dependent Variability in Nanoscaled Devices and Other Reliability IssuesArtikel Article2013
8Toledano-Luque, María ; Kaczer, Ben ; Grasser, Tibor ; Roussel, Philippe J. ; Franco, Jacopo ; Groeseneken, Guido Toward a Streamlined Projection of Small Device Bias Temperature Instability Lifetime DistributionsArtikel Article2013
9Toledano-Luque, M. ; Kaczer, Ben ; Franco, J. ; Roussel, Philippe J. ; Bina, Markus ; Grasser, Tibor ; Cho, M. ; Weckx, P. ; Groeseneken, Guido Degradation of time dependent variability due to interface state generationKonferenzbeitrag Inproceedings 2013