Full name Familienname, Vorname
Eckhardt, Christian
 
Main Affiliation Organisations­zuordnung
 

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1Kaufmann, Josef ; Eckhardt, Christian ; Pickem, Matthias ; Kitatani, Motoharu ; Kauch, Anna ; Held, Karsten Self-consistent ladder dynamical vertex approximationArtikel Article 2021
2Schäfer, Thomas ; Wentzell, Nils ; Simkovic, Fedor ; He, Yuan-Yao ; Hille, Cornelia ; Klett, Marcel ; Eckhardt, Christian J. ; Arzhang, Behnam ; Harkov, Viktor ; Le Régent, Francois-Marie ; Kirsch, Alfred ; Wang, Yan ; Kim, Aaram J. ; Kozik, Evgeny ; Stepanov, Evgeny A. ; Kauch, Anna ; Andergassen, Sabine ; Hansmann, Philipp ; Rohe, Daniel ; Vilk, Yuri M. ; LeBlanc, James P. F. ; Zhang, Shiwei ; Tremblay, A.-M.S. ; Ferrero, Michel ; Parcollet, Olivier ; Georges, Antoine Tracking the Footprints of Spin Fluctuations: A MultiMethod, MultiMessenger Study of the Two-Dimensional Hubbard ModelArtikel Article 2021
3Eckhardt, Christian J. ; Honerkamp, Carsten ; Held, Karsten ; Kauch, Anna Truncated unity parquet solverArtikel Article 2020
4Hille, Cornelia ; Kugler, Fabian B. ; Eckhardt, Christian ; He, Yuan-Yao ; Kauch, Anna Katarzyna ; Honerkamp, Carsten ; Toschi, Alessandro ; Andergassen, Sabine Quantitative functional renormalization group description of the two-dimensional Hubbard modelArtikel Article 2020
5Eckhardt, Christian Johannes ; Kauch, Anna ; Honerkamp, C. ; Held, Karsten Numerically efficient parquet-equations solver for correlated electron systemsPräsentation Presentation2019
6Humer, I. ; Eckhardt, C. ; Huber, H. P. ; Kienberger, F. ; Smoliner, J. Tip geometry effects in dopant profiling by scanning microwave microscopyArtikel Article2012
7Eckhardt, C. ; Madl, M. ; Brezna, W. ; Smoliner, J. A quantitative analysis of photocurrent signals measured on GaAs using conductive atomic force microscopyArtikel Article2011
8Eckhardt, Christian Analytische Untersuchung mit computerunterstützten Simulationsmodellen auf modernen Halbleitermaterialien im NanobereichThesis Hochschulschrift2010
9Eckhardt, Christian ; Silvano de Sousa, Jonathan ; Brezna, Wolfgang ; Bethge, Ole ; Bertagnolli, Emmerich ; Smoliner, Jürgen Frequency dependent capacitance spectroscopy using conductive diamond tips on GaAs/Al2O3 junctionsArtikel Article2010
10Eckhardt, Christian ; Brezna, Wolfgang ; Silvano de Sousa, Jonathan ; Bethge, Ole ; Bertagnolli, Emmerich ; Smoliner, Jürgen Geometry effectsandfrequencydependenceinscanning capacitance microscopyonGaAsSchottkyand metal-oxide-semiconductor-TypejunctionsArtikel Article2010
11Eckhardt, Christian ; Brezna, Wolfgang ; Bethge, Ole ; Bertagnolli, Emmerich ; Smoliner, Jürgen Tip geometry effects in scanning capacitance microscopy on GaAs Schottky and metal-oxide-semiconductor-type junctionsArtikel Article2009
12Eckhardt, Christian Messsteuerungstechnik in der TieftemperaturphysikThesis Hochschulschrift2007
13Eisterer, Michael ; Eckhardt, C. ; Zehetmayer, Martin ; Weber, Harald W. ; Schlachter, S.I. ; Goldacker, Wilfried ; Nesterenko, V.F. ; Tajima, T. Influence of disorder on the superconducting properties of polycrystalline MgB₂Artikel Article2006
14Eisterer, Michael ; Eckhardt, C. ; Zehetmayer, Martin ; Weber, Harald W. ; Schlachter, S.I. ; Goldacker, Wilfried ; Nesterenko, V.F. ; Tajima, S. Influence of disorder on the superconducting properties of polycrystalline MgB₂Präsentation Presentation2005