2012 International Electron Devices Meeting

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		Vorschau	Autor_in(nen)	Titel	Dokumenttyp	Erscheinungsdatum
	1		Bina, M. ; Rupp, K. ; Tyaginov, S. ; Triebl, O. ; Grasser, T.	Modeling of hot carrier degradation using a spherical harmonics expansion of the bipolar Boltzmann transport equation	Konferenzbeitrag Inproceedings	2012
	2		Grasser, T. ; Reisinger, H. ; Rott, K. ; Toledano-Luque, M. ; Kaczer, B.	On the microscopic origin of the frequency dependence of hole trapping in pMOSFETs	Konferenzbeitrag Inproceedings	2012