Microscopy Conference 2015 Proceedings

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Microscopy Conference 2015 Proceedings
 
Publisher Herausgeber
DGE - German Society for Electron Microscopy, e.V.
 

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1Schachinger, Thomas ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter Bessel beams with high OAM: prospects for unconventional electrodynamicsKonferenzbeitrag Inproceedings2015
2Hetaba, Walid ; Löffler, Stefan ; Stöger-Pollach, Michael ; Hütten, Andreas ; Parkinson, Gareth S. ; Schattschneider, Peter EMCD as a probe for magnetic phase transitionsKonferenzbeitrag Inproceedings2015
3Götsch, Thomas ; Wallisch, Wolfgang ; Stöger-Pollach, Michael ; Menzel, Alexander ; Klötzer, Bernhard ; Penner, Simon From zirconia to yttria - sampling the YSZ phase diagram using sputter-deposited thin filmsKonferenzbeitrag Inproceedings2015
4Schneider, Sebastian ; Pohl, Darius ; Löffler, Stefan ; Schachinger, Thomas ; Schattschneider, Peter ; Schultz, Ludwig ; Rellinghaus, Bernd Probing magnetic properties on the nm scale: EMCD on individual FePt nanocubesKonferenzbeitrag Inproceedings2015
5Müller, Knut ; Krause, Florian ; Béché, Armand ; Schowalter, Marco ; Galioit, Vincent ; Löffler, Stefan ; Verbeeck, Johan ; Zweck, Josef ; Schattschneider, Peter ; Rosenauer, Andreas Quantum mechanical interpretation of electron picodiffraction reveals atomic electric fieldsKonferenzbeitrag Inproceedings2015