Proceedings 2022 IEEE 27th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA)

Book title Buchtitel
Proceedings 2022 IEEE 27th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA)
 
ISBN
9781665499972
 
Publisher Herausgeber
IEEE
 
Volume Band
2022-September
 

Publications Publikationen

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PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Tonejca, Lea ; Mauthner, Gernot ; Trautner, Thomas ; Koenig, Valentina ; Liemberger, Werner AI-Based Surface Roughness Prediction Model for Automated CAM-Planning OptimizationInproceedings Konferenzbeitrag5-Jan-2023
2Bhosale, Pushparaj ; Kastner, Wolfgang ; Sauter, Thilo Automating Safety and Security Risk Assessment in Industrial Control Systems: Challenges and ConstraintsInproceedings Konferenzbeitrag 2022
3Froschauer, Roman ; Köcher, Aljosha ; Meixner, Kristof ; Schmitt, Siwara ; Spitzer, Fabian Capabilities and Skills in Manufacturing: A Survey Over the Last Decade of ETFAInproceedings Konferenzbeitrag 2022
4Knorr, Felix ; Fruhwirth, Thomas ; Kastner, Wolfgang Functional Smart Grid Application DevelopmentInproceedings Konferenzbeitrag 1-Jan-2022
5Feichtinger, Kevin ; Meixner, Kristof ; Rinker, Felix ; Koren, István ; Eichelberger, Holger ; Heinemann, Tonja ; Holtmann, Jörg ; Konersmann, Marco ; Michael, Judith ; Neumann, Eva ; Pfeiffer, Jerome ; Rabiser, Rick ; Riebisch, Matthias ; Schmid, Klaus Industry Voices on Software Engineering Challenges in Cyber-Physical Production Systems EngineeringInproceedings Konferenzbeitrag 2022
6Gent, Sascha ; Gent Orskar ; Schörghofer, Paul ; Ramsauer, Christoph Marcus ; Bleicher, Friedrich ; Leder Norbert ; Fernández Gutiérrez, Ricardo ; Reiterer, Florian Maintenance interval monitoring and cutting edge breakout detection using an instrumented toolInproceedings Konferenzbeitrag 14-Nov-2022
7Hoffmann, David ; Biffl, Stefan ; Meixner, Kristof ; Lüder, Arndt Towards Design Patterns for Production SecurityInproceedings Konferenzbeitrag 2022
8Winkler, Dietmar ; Sherstneva, Serafima ; Biffl, Stefan Towards Multi-View Test Specification in CPPS EngineeringInproceedings Konferenzbeitrag 2022