Schattschneider, Peter

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Schattschneider, Peter
 
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Author:  Stöger-Pollach, Michael

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PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
101Stöger-Pollach, Michael ; Galek, Tomasz ; Schattschneider, Peter Determination of optical properties and bandgaps by means of EELSPräsentation Presentation2006
102Gall, S. ; Schneider, J. ; Klein, J. ; Hübener, K. ; Muske, M. ; Rau, B. ; Conrad, E. ; Sieber, I. ; Petter, K. ; Lips, K. ; Stöger-Pollach, M. ; Schattschneider, P. ; Fuhs, W. Large-grained polycrystalline silicon on glass for thin-film solar cellsArtikel Article2006
103Petter, K. ; Eyidi, Dominique ; Stöger-Pollach, Michael ; Sieber, I. ; Schubert-Bischoff, P. ; Rau, B. ; Tham, A.T. ; Schattschneider, Peter ; Gall, S. ; Lips, K. ; Fuhs, W. Line defects in epitaxial silicon films grown at 560°CArtikel Article2006
104Rau, B. ; Petter, K. ; Sieber, I. ; Stöger-Pollach, Michael ; Eyidi, Dominique ; Schattschneider, Peter ; Gall, S. ; Lips, K. ; Fuhs, W. Extended defects in Si films epitaxially grown by low-temperature ECRCVDArtikel Article2006
105Schattschneider, Peter ; Hébert, Cécile ; Stöger-Pollach, Michael Electron energy-loss spectrometry for metals: some thoughts beyond microanalysisArtikel Article2006
106Galek, Thomasz ; Stöger-Pollach, Michael ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter Kramers-Kronig Analysis and Data Processing in VEELSKonferenzbeitrag Inproceedings2006
107Galek, Thomasz ; Hébert, Cécile ; Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter Metal Induced Gap States at Si / Al InterfaceKonferenzbeitrag Inproceedings2006
108Stöger-Pollach, Michael ; Franco, H. ; Schattschneider, Peter ; Lazar, S. ; Schaffer, B. ; Grogger, W. ; Zandbergen, H.W. Cerenkov losses: A limit for bandgap determination and Kramers-Kronig analysisArtikel Article 2006
109Schattschneider, Peter ; Franco, H. ; Stöger-Pollach, Michael ; Grogger, W. Relativistic Effects in Low Energy Loss SpectraKonferenzbeitrag Inproceedings2006
110Galek, Thomasz ; Hébert, Cécile ; Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter Numerical Aspects of Valence Electron Energy Loss SpectrometryKonferenzbeitrag Inproceedings2006
111Stöger-Pollach, Michael ; Rubino, Stefano ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter Improving the intensity in CHIRALTEM experimentsKonferenzbeitrag Inproceedings2006
112Galek, Thomasz ; Stöger-Pollach, Michael ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter Ab initio study of metal induced gap states at Si / Al interfaceKonferenzbeitrag Inproceedings2006
113Galek, Thomasz ; Stöger-Pollach, Michael ; Laister, A. ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter Kramers-Kronig Analysis in the Valence Electron Energy Loss SpectrometryKonferenzbeitrag Inproceedings2006
114Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter ; Laister, A. Retardation effects in valence EELS spectraKonferenzbeitrag Inproceedings2006
115Stöger-Pollach, Michael ; Laister, A. ; Galek, Thomasz ; Schattschneider, Peter Relativistic effects in valence EELSKonferenzbeitrag Inproceedings2006
116Stöger-Pollach, Michael ; Hébert, Cécile ; Schattschneider, Peter ; Laister, A. Retardation Effects in Valence - EELS SpectraKonferenzbeitrag Inproceedings2006
117Petter, K. ; Eyidi, Dominique ; Stöger-Pollach, Michael ; Sieber, I. ; Schubert-Bischoff, P. ; Rau, B. ; Tham, A.T. ; Schattschneider, Peter ; Gall, S. ; Lips, K. ; Fuhs, W. Line defects in epitaxial silicon films grown at 560°CPräsentation Presentation2005
118Schattschneider, Peter ; Bernardi, Johannes ; Eyidi, Dominique ; Hébert, Cécile ; Hofer, F. ; Jouffrey, B. ; Nelhiebel, M. ; Rubino, Stefano ; Stöger-Pollach, Michael ; Willinger, Marc-Georg Fundamentals of EELSPräsentation Presentation2005
119Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter Crystallization of SiPräsentation Presentation2005
120Stöger-Pollach, Michael ; Schattschneider, Peter ; Eyidi, Dominique ; Bernardi, Johannes ; Montgermont, Aude ; Walter, T. ; Galek, Thomasz ; Bryla, K. METEOR WP5 - Materials characterization: A complete summaryPräsentation Presentation2005