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Hollauer, Christian Karl
 
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1Hollauer, Christian ; Ceric, Hajdin ; van Barel, G. ; Witvrouw, A. ; Selberherr, Siegfried Investigation of Intrinsic Stress Effects in Cantilever StructuresKonferenzbeitrag Inproceedings2007
2Hollauer Christian - 2007 - Modeling of thermal oxidation and stress effects.pdf.jpgHollauer, Christian Modeling of thermal oxidation and stress effectsThesis Hochschulschrift 2007
3Hollauer, Christian ; Ceric, Hajdin ; Selberherr, Siegfried Modeling of Intrinsic Stress Effects in Deposited Thin FilmsKonferenzbeitrag Inproceedings2006
4Ceric, Hajdin ; Hollauer, Christian ; Selberherr, Siegfried Simulation of Texture Development Caused Stress Build-Up in Electroplated Copper LinesKonferenzbeitrag Inproceedings2006
5Holzer, Stefan ; Hollauer, Christian ; Ceric, Hajdin ; Karner, Markus ; Grasser, Tibor ; Langer, Erasmus ; Selberherr, Siegfried Three-Dimensional Transient Interconnect Analysis With Regard to Mechanical StressKonferenzbeitrag Inproceedings2006
6Ceric, H. ; Hollauer, C. ; Selberherr, S. Three-Dimensional Simulation of Intrinsic Stress Build-Up in Thin FilmsKonferenzbeitrag Inproceedings2006
7Ceric, Hajdin ; Heinzl, Rene ; Hollauer, Christian ; Grasser, Tibor ; Selberherr, Siegfried Microstructure and Stress Aspects of Electromigration ModelingBuchbeitrag Book Contribution2006
8Entner, Robert ; Heinzl, Rene ; Hollauer, Christian ; Sheikholeslami, Alireza ; Wittmann, Robert ; Selberherr, Siegfried VISTA Status Report June 2005Bericht Report2005
9Hollauer, Christian ; Holzer, Stefan ; Ceric, Hajdin ; Wagner, Stephan ; Grasser, Tibor ; Selberherr, Siegfried Investigation of Thermo-Mechanical Stress in Modern Interconnect LayoutsKonferenzbeitrag Inproceedings2005
10Hollauer, Christian ; Ceric, Hajdin ; Selberherr, Siegfried Three-Dimensional Simulation of Thermal Oxidation and the Influence of StressKonferenzbeitrag Inproceedings2005
11Ceric, Hajdin ; Deshpande, V ; Hollauer, Christian ; Holzer, Stefan ; Grasser, Tibor ; Selberherr, Siegfried Comprehensive Analysis of Vacancy Dynamics Due to ElectromigrationKonferenzbeitrag Inproceedings2005
12Ceric, Hajdin ; Hollauer, Christian ; Selberherr, Siegfried Microstructure and Stress Aspects of Electromigration ModelingKonferenzbeitrag Inproceedings2005
13Holzer, Stefan ; Hollauer, Christian ; Ceric, Hajdin ; Wagner, Stephan ; Entner, Robert ; Langer, Erasmus ; Grasser, Tibor ; Selberherr, Siegfried Three-Dimensional Transient Electro-Thermal Interconnect Simulation for Stress and Electromigration AnalysisKonferenzbeitrag Inproceedings2005
14Holzer, Stefan ; Hollauer, Christian ; Ceric, Hajdin ; Wagner, Stephan ; Langer, Erasmus ; Grasser, Tibor ; Selberherr, Siegfried Transient Electro-Thermal Investigations of Interconnect Structures Exposed to Mechanical StressPräsentation Presentation2005
15Wessner, Wilfried ; Ceric, Hajdin ; Hollauer, Christian ; Langer, Erasmus ; Selberherr, Siegfried Electromigration Reliability TCAD SolutionsPräsentation Presentation2005
16Holzer, Stefan ; Hollauer, Christian ; Ceric, Hajdin ; Wagner, Stephan ; Langer, Erasmus ; Grasser, Tibor ; Selberherr, Siegfried Transient Electro-Thermal Investigations of Interconnect Structures Exposed to Mechanical StressKonferenzbeitrag Inproceedings2005
17Hollauer, Ch. ; Ceric, H. ; Selberherr, S. Three-Dimensional Simulation of Stress Dependent Thermal OxidationKonferenzbeitrag Inproceedings2005
18Hollauer, Christian ; Ceric, Hajdin ; Selberherr, Siegfried Three-Dimensional Simulation of Thermal Oxidation and the Influence of StressBuchbeitrag Book Contribution2005
19Hollauer, Christian ; Sheikholeslami, Alireza ; Palankovski, Vassil ; Wagner, Stephan ; Wittmann, Robert ; Selberherr, Siegfried VISTA Status Report June 2003Bericht Report2003
20Hollauer, Christian Implementierung einer HDF5-Datenschnittstelle für den Wafer-State-ServerThesis Hochschulschrift2002