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Triebl, Oliver
 
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1Tyaginov, S. E. ; Bina, Markus ; Franco, J. ; Osintsev, Dimitry ; Triebl, Oliver ; Kaczer, Ben ; Grasser, Tibor Physical Modeling of Hot-Carrier Degradation for Short- and Long-channel MOSFETsKonferenzbeitrag Inproceedings2014
2Windbacher, Thomas ; Triebl, Oliver ; Osintsev, Dimitry ; Makarov, Alexander ; Sverdlov, Viktor ; Selberherr, Siegfried Switching Optimization of an Electrically Read- and Writable Magnetic Logic GateKonferenzbeitrag Inproceedings 2013
3Windbacher, Thomas ; Triebl, Oliver ; Osintsev, Dmitry ; Makarov, Alexander ; Sverdlov, Viktor ; Selberherr, Siegfried Simulation Study of an Electrically Read- and Writable Magnetic Logic GateArtikel Article2013
4Tyaginov, S. E. ; Starkov, I. A. ; Triebl, O. ; Karner, M. ; Kernstock, Ch. ; Jungemann, C. ; Enichlmair, H. ; Park, J.M. ; Grasser, T. Impact of gate oxide thickness variations on hot-carrier degradationKonferenzbeitrag Inproceedings2012
5Bina, M. ; Rupp, K. ; Tyaginov, S. ; Triebl, O. ; Grasser, T. Modeling of hot carrier degradation using a spherical harmonics expansion of the bipolar Boltzmann transport equationKonferenzbeitrag Inproceedings2012
6Bina, Markus ; Triebl, Oliver ; Schwarz, Benedikt ; Karner, Markus ; Kaczer, Ben ; Grasser, Tibor Simulation of Reliability on Nanoscale DevicesKonferenzbeitrag Inproceedings2012
7Triebl Oliver - 2012 - Reliability issues in high-voltage semiconductor devices.pdf.jpgTriebl, Oliver Reliability issues in high-voltage semiconductor devicesThesis Hochschulschrift 2012
8Tyaginov, Stanislav ; Starkov, Ivan ; Triebl, Oliver ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor ; Enichlmair, Hubert ; Park, Jong-Mun ; Jungemann, Christoph Secondary generated holes as a crucial component for modeling of HC degradation in high-voltage n-MOSFETKonferenzbeitrag Inproceedings2011
9Grasser, Tibor ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Kosina, Hans ; Triebl, Oliver Customized Software Development ReportBericht Report2010
10Starkov, Ivan ; Tyaginov, S. E. ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, Jong Mun ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Analysis of Worst-Case Hot-Carrier Conditions for High Voltage Transistors Based on Full-Band Monte-Carlo SimulationsKonferenzbeitrag Inproceedings2010
11Tyaginov, S. E. ; Starkov, Ivan ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, Jong Mun ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Hot-Carrier Degradation Modeling Using Full-Band Monte-Carlo SimulationsKonferenzbeitrag Inproceedings2010
12Starkov, Ivan ; Tyaginov, S. E. ; Enichlmair, H. ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, Jong Mun ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor HC Degradation Model: Interface State Profile-Simulations vs. ExperimentKonferenzbeitrag Inproceedings2010
13Tyaginov, S. E. ; Starkov, Ivan ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, Jong Mun ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Interface Traps Density-of-States as a Vital Component for Hot-Carrier Degradation ModelingKonferenzbeitrag Inproceedings2010
14Tyaginov, S. E. ; Starkov, Ivan ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, J.M. ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Interface Traps Density-of-States as a Vital Component for Hot-Carrier Degradation ModelingArtikel Article2010
15Triebl, Oliver ; Grasser, Tibor Numerical Power/HV Device ModelingBuchbeitrag Book Contribution2010
16Hehenberger, Philipp Paul ; Aichinger, T. ; Grasser, Tibor ; Gös, Wolfgang ; Triebl, Oliver ; Kaczer, Ben ; Nelhiebel, M. Do NBTI-Induced Interface States Show Fast Recovery? A Study Using a Corrected On-The-Fly Charge-Pumping Measurement TechniqueKonferenzbeitrag Inproceedings2009
17Grasser, Tibor ; Gös, Wolfgang ; Triebl, Oliver ; Hehenberger, Philipp Paul ; Wagner, Paul-Jürgen ; Schwaha, Philipp ; Heinzl, Rene ; Holzer, Stefan ; Entner, Robert ; Wagner, Stephan ; Schanovsky, Franz 3 Year Report 2005-2007Bericht Report2007
18Triebl, Oliver ; Grasser, Tibor Investigation of Vector Discretization Schemes for Box Volume MethodsKonferenzbeitrag Inproceedings2007
19Entner, Robert ; Grasser, Tibor ; Triebl, Oliver ; Enichlmair, H. ; Minixhofer, R. Negative Bias Temperature Instability Modeling for High-Voltage Oxides at Different Stress TemperaturesArtikel Article2007
20Triebl, Oliver ; Grasser, Tibor Vector Discretization Schemes in Technology CAD EnvironmentsArtikel Article2007