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Lorenz, J.
 

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1Lorenz, J. ; Asenov, A ; Baer, Eberhard ; Barraud, Sylvain ; Millar, C. ; Nedjalkov, Mihail Process Variability for Devices at and Beyond the 7nm NodeBuchbeitrag Book Contribution 2018
2Baer, E. ; Evanschitzky, P. ; Lorenz, J. ; Roger, F. ; Minixhofer, R. ; Filipovic, L. ; de Orio, R.L. ; Selberherr, S. Coupled Simulation to Determine the Impact of Across Wafer Variations in Oxide PECVD on Electrical and Reliability Parameters of Through-Silicon ViasArtikel Article 2015
3Baer, Eberhard ; Evanschitzky, P. ; Lorenz, J. ; Roger, Frederic ; Minixhofer, R. ; Filipovic, Lado ; Orio, Roberto ; Selberherr, Siegfried Coupled Simulation to Determine Across Wafer Variations for Electrical and Reliability Parameters of Through-Silicon VIAsKonferenzbeitrag Inproceedings 2014
4Filipovic, L. ; Rudolf, F. ; Baer, E. ; Evanschitzky, P. ; Lorenz, J. ; Roger, F. ; Singulani, A. ; Minixhofer, R. ; Selberherr, S. Three-dimensional simulation for the reliability and electrical performance of through-silicon viasKonferenzbeitrag Inproceedings2014
5Lorenz, J. ; Bär, E. ; Clees, T. ; Evanschitzky, P. ; Jancke, Roland ; Kampen, C. ; Paschen, U. ; Salzig, C. ; Selberherr, Siegfried Hierarchical Simulation of Process Variations and Their Impact on Circuits and Systems: ResultsArtikel Article 16-Jun-2011
6Lorenz, J. ; Bär, E. ; Clees, T. ; Jancke, Roland ; Salzig, C. ; Selberherr, Siegfried Hierarchical Simulation of Process Variations and Their Impact on Circuits and Systems: MethodologyArtikel Article 16-Jun-2011
7Lorenz, J. ; Clees, T. ; Bär, E. ; Jancke, Roland ; Paschen, U. ; Lang, Patrick ; Salzig, C. ; Klaaßen, Bernhard ; Hauser, Matthias ; Cervenka, Johann Hierarchische Simulation nanoelektronischer Systeme zur Beherrschung von ProzessschwankungenBericht Report2011
8Lorenz, J. ; Clees, T. ; Bär, E. ; Jancke, Roland ; Paschen, U. ; Lang, Patrick ; Salzig, C. ; Klaaßen, Bernhard ; Hauser, Matthias ; Cervenka, Johann Hierarchische Simulation nanoelektronischer Systeme zur Beherrschung von ProzessschwankungenBericht Report2010
9Lorenz, J. ; Clees, T. ; Bär, E. ; Jancke, Roland ; Paschen, U. ; Lang, Patrick ; Salzig, C. ; Klaaßen, Bernhard ; Hauser, Matthias ; Cervenka, Johann Hierarchische Simulation nanoelektronischer Systeme zur Beherrschung von ProzessschwankungenBericht Report2010
10Bohmayr, W. ; Burenkov, A. ; Lorenz, J. ; Ryssel, H. ; Selberherr, S. Trajectory Split Method for Monte Carlo Simulation of Ion ImplantationArtikel Article1995
11Burenkov, A. ; Bohmayr, W. ; Lorenz, J. ; Ryssel, H. ; Selberherr, S. Analytical Model for Phosphorus Large Angle Tilted ImplantationKonferenzbeitrag Inproceedings1995
12Bohmayr, W. ; Burenkov, A. ; Lorenz, J. ; Ryssel, H. ; Selberherr, S. Statistical Accuracy and CPU Time Characteristic of Three Trajectory Split Methods for Monte Carlo Simulation of Ion ImplantationKonferenzbeitrag Inproceedings1995