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Talai, Armin
 

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1Talai, Armin ; Kölpin, K. ; Bittner, Achim ; Steinhäußer, Frank ; Schmid, Ulrich Porösizierte Glaskeramik-Substrate für die RadarsensorikBuchbeitrag Book Contribution2018
2Steinhäußer, Frank ; Talai, Armin ; Göltl, Gwen ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Bittner, Achim ; Weigel, Robert ; Koelpin, Alexander ; Schmid, Ulrich Concentration and temperature dependent selectivity of the LTCC porosification process with phosphoric acidArtikel Article 2017
3Steinhäußer, Frank ; Talai, Armin ; Weigel, Robert ; Koelpin, Alexander ; Bittner, Achim ; Schmid, Ulrich Permittivity Reduction and Surface Modification by Porosification of LTCCArtikel Article 2016
4Steinhäußer, Frank ; Talai, Armin ; Sandulache, Gabriela ; Weigel, Robert ; Koelpin, Alexander ; Hansal, Wolfgang ; Bittner, Achim ; Schmid, Ulrich Pulse plated silver metallization on porosified LTCC substrates for high frequency applicationsArtikel Article 2016
5Bittner, Achim ; Steinhäußer, Frank ; Talai, Armin ; Koelpin, Alexander ; Weigel, Robert ; Rittweg, Thomas ; Schwanke, Dieter ; Sandulache, Gabriela ; Hansal, W. ; Schmid, Ulrich Modellierung nasschemischer Porosizierverfahren auf LTCC für elektromagnetische Hochfrequenz-FeldsimulationKonferenzbeitrag Inproceedings2015
6Talai, Armin ; Mann, Sebastian ; Steinhäußer, Frank ; Schmid, Ulrich ; Weigel, Robert ; Bittner, Achim ; Koelpin, Alexander A Semi Double-Ridged quasi TE-Waveguide based Microwave Bulk Material Characterization SystemKonferenzbeitrag Inproceedings2015
7Talai, Armin ; Steinhäußer, Frank ; Bittner, Achim ; Schmid, Ulrich ; Weigel, Robert ; Koelpin, Alexander A method for the determination of the complex permittivity by detuned ring resonators for bulk materials up to 110 GHzArtikel Article2015
8Talai, Armin ; Bittner, Achim ; Steinhäußer, Frank ; Schmid, Ulrich ; Weigel, Robert ; Koelpin, Alexander Poröses LTCC als Substratmaterial für HöchstfrequenzradarsensorenKonferenzbeitrag Inproceedings2015
9Talai, Armin ; Steinhäußer, Frank ; Bittner, Achim ; Schmid, Ulrich ; Weigel, Robert ; Kölpin, K. A Simplified Equivalent Model for Microwave Characteristics of Porosified LTCCKonferenzbeitrag Inproceedings2014
10Talai, Armin ; Steinhäußer, Frank ; Bittner, Achim ; Schmid, Ulrich ; Weigel, Robert ; Kölpin, K. A Permittivity Characterization Method by Detuned Ring-Resonators for Bulk Materials up to 110 GHzKonferenzbeitrag Inproceedings2014
11Talai, Armin ; Steinhäußer, Frank ; Gmeiner, Björn ; Wegener, M. ; Bittner, Achim ; Schmid, Ulrich ; Roosen, A. ; Weigel, Robert ; Kölpin, K. Electromagnetic Analysis of Conductor Track Surface Roughnesses from 1 GHz to 110 GHzKonferenzbeitrag Inproceedings2014
12Steinhäußer, Frank ; Talai, Armin ; Steiger-Thirsfeld, Andreas ; Koelpin, Alexander ; Weigel, Robert ; Bittner, Achim ; Schmid, Ulrich Graphical based characterisation and modelling of material gradients in porosified LTCCArtikel Article2014
13Talai, Armin ; Weigel, Robert ; Kölpin, K. ; Steinhäußer, Frank ; Bittner, Achim ; Schmid, Ulrich The Influence by Trapezoidal Conductor Shapes on Ring-Resonator Based Material Characterization up to 110 GHzKonferenzbeitrag Inproceedings2014
14Talai, Armin ; Steinhäußer, Frank ; Gmeiner, Björn ; Bittner, Achim ; Rüde, Ulrich ; Schmid, Ulrich ; Weigel, Robert ; Koelpin, Alexander Electromagnetic Analysis of Fringed Microstrip Lines on Porosified LTCCKonferenzbeitrag Inproceedings2013
15Steinhäußer, Frank ; Talai, Armin ; Koelpin, Alexander ; Weigel, Robert ; Bittner, Achim ; Schmid, Ulrich Einfluss der Materialverteilung in porosizierter LTCC auf die effektive Permittivität durch finite 3D Feld-SimulationKonferenzbeitrag Inproceedings2013
16Talai, Armin ; Steinhäußer, Frank ; Schmid, Ulrich ; Weigel, Robert ; Bittner, Achim ; Koelpin, Alexander A Finite 3D Field Simulation Method for Permittivity Gradient Implementation of Porosification Processes in LTCCKonferenzbeitrag Inproceedings2013
17Talai, Armin ; Gmeiner, Björn ; Steinhäußer, Frank ; Bittner, Achim ; Rüde, Ulrich ; Schmid, Ulrich ; Koelpin, Alexander Electromagnetic Field Analysis with Advanced Structural Modeling of Microstrips on Porosified LTCCKonferenzbeitrag Inproceedings2013