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Asenov, Asen
 

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1Medina-Bailon-2023-Nano Express-vor.pdf.jpgMedina-Bailon, Cristina ; Nedialkov, Mihail Hristov ; Georgiev, Vihar ; Selberherr, Siegfried ; Asenov, Asen Comprehensive mobility study of silicon nanowire transistors using multi-subband modelsArticle Artikel Jun-2023
2Sadi, Toufik ; Medina-Bailon, Christina ; Nedjalkov, Mihail ; Lee, Jaehyun ; Badami, Oves ; Berrada, Salim ; Carillo-Nunez, Hamilton ; Georgiev, Vihar ; Selberherr, Siegfried ; Asenov, Asen Simulation of the Impact of Ionized Impurity Scattering on the Total Mobility in Si Nanowire TransistorsArtikel Article 2019
3Medina-Bailon, Christina ; Sadi, Toufik ; Nedjalkov, Mihail ; Carillo-Nunez, Hamilton ; Lee, Jaehyun ; Badami, Oves ; Georgiev, Vihar ; Selberherr, Siegfried ; Asenov, Asen Mobility of Circular and Elliptical Si Nanowire Transistors Using a Multi-Subband 1D FormalismArtikel Article 2019
4Sadi, Toufik ; Medina-Bailon, Cristina ; Nedjalkov, Mihail ; Lee, Jaehyun ; Badami, Oves ; Berrada, Salim ; Carrillo-Nunez, Hamilton ; Georgiev, Vihar ; Selberherr, Siegfried ; Asenov, Asen Simulation of the Impact of Ionized Impurity Scattering on the Total Mobility in Si Nanowire TransistorsBuchbeitrag Book Contribution 2019
5Lee, J. ; Carillo-Nunez, Hamilton ; Nedjalkov, Mihail ; Medina-Bailón, Christina ; Sadi, T. ; Selberherr, Siegfried ; Berrada, Salim ; Georgiev, Vihar ; Asenov, Asen Nanowire FETsKonferenzbeitrag Inproceedings 2018
6Nedjalkov, Mihail ; Ellinghaus, Paul ; Weinbub, Josef ; Sadi, Toufik ; Asenov, Asen ; Dimov, Ivan ; Selberherr, Siegfried Stochastic Analysis of Surface Roughness Models in Quantum WiresArtikel Article 2018
7Sadi, Toufik ; Towie, Ewan ; Nedjalkov, Mihail ; Riddet, Craig ; Alexander, Craig ; Wang, Liping ; Georgiev, Vihar ; Brown, Andrew ; Millar, Campbell ; Asenov, Asen One-dimensional multi-subband Monte Carlo simulation of charge transport in Si nanowire transistorsKonferenzbeitrag Inproceedings2016
8Gerrer, Louis ; Hussin, Razaidi ; Amoroso, Salvatore M. ; Franco, J. ; Weckx, P. ; Simicic, M. ; Horiguchi, N. ; Kaczer, Ben ; Grasser, T. ; Asenov, Asen Experimental evidences and simulations of trap generation along a percolation pathKonferenzbeitrag Inproceedings2015
9Amoroso, Salvatore Maria ; Gerrer, Louis ; Nedjalkov, Mihail ; Hussin, Razaidi ; Alexander, Craig ; Asenov, Asen Modelling Carriers Mobility in nano-MOSFETs in the Presence of Discrete Trapped Charges: Accuracy and IssuesArtikel Article2014
10Sangiorgi, Enrico ; Asenov, Asen ; Bennett, Herbert S. ; Dutton, Robert W. ; Esseni, David ; Giles, Martin D. ; Hane, Masami ; Nishi, Kenji ; Ranaweera, Jeewika ; Selberherr, Siegfried Foreword Special Issue on Characterization of Nano CMOS Variability by Simulation and MeasurementsArtikel Article2011
11Bukhori, Muhammad Faiz ; Grasser, Tibor ; Kaczer, Ben ; Reisinger, Hans. ; Asenov, Asen ‘Atomistic’ simulation of RTS amplitudes due to single and multiple charged defect states and their interactionsKonferenzbeitrag Inproceedings2010
12Sangiorgi, Enrico ; Asenov, Asen ; Bennett, Herbert S. ; Dutton, Robert W. ; Esseni, David ; Giles, Martin D. ; Hane, Masami ; Jungemann, Christoph ; Nishi, Kenji ; Selberherr, Siegfried ; Takagi, Shinichi Foreword Special Issue on Simulation and Modeling of Nanoelectronics DevicesArtikel Article2007