Forsich, Christian

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Prefix title Titel (vorangestellt)
Dr.techn.
 
Full name Familienname, Vorname
Forsich, Christian
 
Main Affiliation Organisations­zuordnung
 

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PreviewAuthors / EditorsTitleTypeIssue Date
1Laimer, Johann ; Forsich, Christian ; Humlicek, J. ; Störi, Herbert Closed Loop Control of a Plasma Nitriding Process by Spectroscopic EllipsometryKonferenzbeitrag Inproceedings2006
2Eitzinger, C. ; Fikar, J. ; Forsich, Christian ; Humlicek, J. ; Krüger, A. ; Kullmer, R. ; Laimer, Johann ; Lingenhöle, E. ; Lingenhöle, K. ; Mühlberger, M. ; Müller, T. ; Störi, Herbert ; Wielsch, U. Spectroscopic Ellipsometry as a Tool for On-Line Monitoring and Control of Surface Treatment ProcessesArtikel Article2006
3Forsich, Christian Prozesskontrolle bei Plasmabeschichtung und -nitrierung mittels Spektroskopischer EllipsometriePräsentation Presentation2005
4Forsich, Christian 24 month work review of IAPPräsentation Presentation2005
5Störi, Herbert ; Forsich, Christian Schlusspräsentation PC-PCN-SEPräsentation Presentation2005
6Forsich, Christian 18 month work review of IAPPräsentation Presentation2005
7Forsich, Christian ; Laimer, Johann PC-PCN-SE - Deliverable Report WP6D2Bericht Report2005
8Forsich, Christian ; Laimer, Johann PC-PCN-SE - Deliverable Report WP3D2Bericht Report2005
9Forsich, Christian ; Laimer, Johann PC-PCN-SE - Deliverable Report WP4D2Bericht Report2005
10Forsich, Christian ; Laimer, Johann PC-PCN-SE - Deliverable Report WP4D1Bericht Report2005
11Forsich, Christian ; Laimer, Johann PC-PCN-SE - Deliverable Report WP6D1Bericht Report2005
12Forsich, Christian ; Laimer, Johann PC-PCN-SE - Deliverable Report WP5D2Bericht Report2005
13Forsich, Christian ; Gebeshuber, I.C. ; Laimer, Johann ; Störi, Herbert ; Humlicek, J. Spectroscopic ellipsometry as an in-situ diagnostic tool for the avoidance of compound layer formation during plasma nitridingKonferenzbeitrag Inproceedings2005
14Forsich, Christian ; Kolm, Ralph ; Tomastik, Christian ; Laimer, Johann ; Störi, Herbert ; Humlicek, J. Control of the composition of titanium nitride coatings during plasma-assisted chemical vapour deposition by spectroscopic ellipsometryKonferenzbeitrag Inproceedings2005
15Forsich, Christian ; Laimer, Johann ; Störi, Herbert ; Humlicek, J. On the spectroscopic ellipsometry for monitoring of diamond-like carbon (DLC) growth during plasma-assisted chemical vapour deposition (PACVD)Konferenzbeitrag Inproceedings2005
16Forsich, Christian 12 month work review of IAPPräsentation Presentation2004
17Forsich, Christian 6 month work review of IAPPräsentation Presentation2004
18Forsich, Christian ; Störi, Herbert ; Fink, Markus ; Laimer, Johann ; Mitterer, C Influence of Hydrogen Sulphide Addition on the Alumina Deposition by Plasma CVDPräsentation Presentation2004
19Forsich, Christian ; Laimer, Johann ; Störi, Herbert In-situ spectroscopic ellipsometry of DLC by bipolar pulsed DC PACVDPräsentation Presentation2004
20Forsich, Christian ; Laimer, Johann PC-PCN-SE - Deliverable Report WP1D1Bericht Report2004