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Forsich, Christian
 
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1Eitzinger, C. ; Fikar, J. ; Forsich, Christian ; Humlicek, J. ; Krüger, A. ; Kullmer, R. ; Laimer, Johann ; Lingenhöle, E. ; Lingenhöle, K. ; Mühlberger, M. ; Müller, T. ; Störi, Herbert ; Wielsch, U. Spectroscopic Ellipsometry as a Tool for On-Line Monitoring and Control of Surface Treatment ProcessesArtikel Article2006
2Laimer, Johann ; Forsich, Christian ; Humlicek, J. ; Störi, Herbert Closed Loop Control of a Plasma Nitriding Process by Spectroscopic EllipsometryKonferenzbeitrag Inproceedings2006
3Störi, Herbert ; Forsich, Christian Schlusspräsentation PC-PCN-SEPräsentation Presentation2005
4Forsich, Christian 24 month work review of IAPPräsentation Presentation2005
5Forsich, Christian 18 month work review of IAPPräsentation Presentation2005
6Forsich, Christian Prozesskontrolle bei Plasmabeschichtung und -nitrierung mittels Spektroskopischer EllipsometriePräsentation Presentation2005
7Forsich, Christian ; Laimer, Johann PC-PCN-SE - Deliverable Report WP3D2Bericht Report2005
8Forsich, Christian ; Laimer, Johann PC-PCN-SE - Deliverable Report WP4D2Bericht Report2005
9Forsich, Christian ; Laimer, Johann PC-PCN-SE - Deliverable Report WP5D2Bericht Report2005
10Forsich, Christian ; Laimer, Johann PC-PCN-SE - Deliverable Report WP4D1Bericht Report2005
11Forsich, Christian ; Laimer, Johann PC-PCN-SE - Deliverable Report WP6D1Bericht Report2005
12Forsich, Christian ; Laimer, Johann PC-PCN-SE - Deliverable Report WP6D2Bericht Report2005
13Forsich, Christian ; Gebeshuber, I.C. ; Laimer, Johann ; Störi, Herbert ; Humlicek, J. Spectroscopic ellipsometry as an in-situ diagnostic tool for the avoidance of compound layer formation during plasma nitridingKonferenzbeitrag Inproceedings2005
14Forsich, Christian ; Laimer, Johann ; Störi, Herbert ; Humlicek, J. On the spectroscopic ellipsometry for monitoring of diamond-like carbon (DLC) growth during plasma-assisted chemical vapour deposition (PACVD)Konferenzbeitrag Inproceedings2005
15Forsich, Christian ; Kolm, Ralph ; Tomastik, Christian ; Laimer, Johann ; Störi, Herbert ; Humlicek, J. Control of the composition of titanium nitride coatings during plasma-assisted chemical vapour deposition by spectroscopic ellipsometryKonferenzbeitrag Inproceedings2005
16Forsich, Christian Process control for plasma coating and nitriding by spectroscopic ellipsometryThesis Hochschulschrift2005
17Forsich, Christian 12 month work review of IAPPräsentation Presentation2004
18Forsich, Christian 6 month work review of IAPPräsentation Presentation2004
19Forsich, Christian ; Störi, Herbert ; Fink, Markus ; Laimer, Johann ; Mitterer, C Influence of Hydrogen Sulphide Addition on the Alumina Deposition by Plasma CVDPräsentation Presentation2004
20Forsich, Christian ; Laimer, Johann ; Störi, Herbert In-situ spectroscopic ellipsometry of DLC by bipolar pulsed DC PACVDPräsentation Presentation2004