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Guerrero, E.
 

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1Budil, Matthias ; Jüngling, Werner ; Guerrero, E. ; Selberherr, Siegfried ; Pötzl, Hans Modeling of Point Defect Kinetics During Thermal OxidationKonferenzbeitrag Inproceedings1986
2Hobler, Gerhard ; Guerrero, E. ; Selberherr, Siegfried Two-Dimensional Modeling of Ion Implantation Induced Point DefectsKonferenzbeitrag Inproceedings1986
3Jüngling, Werner ; Pichler, P. ; Selberherr, Siegfried ; Guerrero, E. ; Pötzl, Hans Simulation of Critical IC Fabrication Processes Using Advanced Physical and Numerical MethodsArtikel Article 1985
4Pichler, P. ; Jüngling, Werner ; Selberherr, Siegfried ; Guerrero, E. ; Pötzl, Hans Simulation of Critical IC-Fabrication StepsArtikel Article 1985
5Pichler, P. ; Jüngling, Werner ; Selberherr, Siegfried ; Guerrero, E. ; Pötzl, Hans Simulation of Critical IC-Fabrication StepsArtikel Article 1985
6Jüngling, Werner ; Pichler, P. ; Selberherr, Siegfried ; Guerrero, E. ; Pötzl, Hans Simulation of Critical IC Fabrication Processes Using Advanced Physical and Numerical MethodsArtikel Article 1985
7Selberherr, S. ; Guerrero, E. Simple and Accurate Representation of Implantation Parameters by Low Order PolynomalsArtikel Article1981