Full name Familienname, Vorname
Uiberacker, Matthias
 

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1Verhoef, Aart ; Lezius, Matthias ; Uiberacker, Matthias ; Krausz, Ferenc Long-term phase stabilization of intense few-cycle pulsesKonferenzbeitrag Inproceedings2007
2Schultze, M. ; Uiberacker, Matthias ; Uphues, Th. ; Verhoef, Aart ; Yakovlev, Vladislav ; Kling, M.F. ; Rauschenberger, Jens ; Kabachnik, Nikolay M. ; Schröder, H. ; Lezius, Matthias ; Kompa, K.L. ; Müller, H.-G. ; Vrakking, M.J.J. ; Hendel, S. ; Kleineberg, U. ; Heinzmann, U. ; Drescher, M. ; Krausz, Ferenc Attosecond real-time observation of electron tunneling and multi-electron dynamics in atomsKonferenzbeitrag Inproceedings2007
3Uiberacker, Matthias ; Uphues, Th. ; Schultze, M. ; Verhoef, Aart ; Yakovlev, Vladislav ; Kling, M.F. ; Rauschenberger, Jens ; Kabachnik, Nikolay M. ; Schröder, H. ; Kompa, K.L. ; Müller, H.-G. ; Vrakking, M.J.J. ; Kleineberg, U. ; Heinzmann, U. ; Drescher, M. ; Krausz, Ferenc Attosecond real-time observation of electron tunneling in atomsArtikel Article2007
4Kienberger, R. ; Uiberacker, Matthias ; Goulielmakis, Eleftherios ; Baltuska, Andrius ; Drescher, M. ; Krausz, Ferenc Single sub-fs soft-X-ray pulses: generation and measurement with the atomic transient recorderArtikel Article2005
5Uiberacker, Matthias ; Drescher, M. ; Hentschel, Michael ; Kienberger, R. ; Yakovlev, Vladislav ; Scrinzi, Armin ; Krausz, Ferenc Zeitaufgelöste Messungen inneratomarer Vorgänge mittels Attosekunden-RöntgenpulsenPräsentation Presentation2003
6Krausz, Ferenc ; Uiberacker, Matthias Ultrafast metrology at the atomic time scalePräsentation Presentation2003
7Baltuska, Andrius ; Udem, Th. ; Uiberacker, Matthias ; Hentschel, Michael ; Gohle, Ch. ; Holzwarth, R. ; Yakovlev, Vladislav ; Scrinzi, Armin ; Hänsch, T. ; Krausz, Ferenc Intense Phase-Controlled Light for Attosecond MetrologyPräsentation Presentation2002
8Uiberacker, Matthias ; Hentschel, Michael ; Kienberger, R. ; Drescher, M. ; Yakovlev, Vladislav ; Scrinzi, Armin ; Spielmann, Christian ; Krausz, Ferenc Sub-Femtosecond XUV Pulses: Generation, Measurement, ApplicationsPräsentation Presentation2002