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Seebacher, E.
 

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1Cervenka, Johann ; Steinmair, Alexander ; Park, Jong Mun ; Seebacher, E. ; Grasser, Tibor TCAD Simulations of Statistical Process Variations for High-Voltage LDMOS TransistorsKonferenzbeitrag Inproceedings2012
2Tyaginov, S. ; Starkov, I. ; Enichlmair, H. ; Jungemann, Ch. ; Park, J.M. ; Seebacher, E. ; Orio, R. ; Ceric, H. ; Grasser, T. An Analytical Approach for Physical Modeling of Hot-Carrier Induced DegradationArtikel Article2011
3Tyaginov, S. E. ; Starkov, Ivan ; Enichlmair, H. ; Jungemann, C. ; Park, Jong Mun ; Seebacher, E. ; Orio, Roberto ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor An Analytical Approach for Physical Modeling of Hot-Carrier Induced DegradationKonferenzbeitrag Inproceedings2011
4Starkov, Ivan ; Tyaginov, S. E. ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, Jong Mun ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Analysis of Worst-Case Hot-Carrier Conditions for High Voltage Transistors Based on Full-Band Monte-Carlo SimulationsKonferenzbeitrag Inproceedings2010
5Tyaginov, S. E. ; Starkov, Ivan ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, Jong Mun ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Hot-Carrier Degradation Modeling Using Full-Band Monte-Carlo SimulationsKonferenzbeitrag Inproceedings2010
6Tyaginov, S. E. ; Starkov, Ivan ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, Jong Mun ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Interface Traps Density-of-States as a Vital Component for Hot-Carrier Degradation ModelingKonferenzbeitrag Inproceedings2010
7Tyaginov, S. E. ; Starkov, Ivan ; Triebl, Oliver ; Cervenka, Johann ; Jungemann, C. ; Carniello, Sara ; Park, J.M. ; Enichlmair, H. ; Karner, Markus ; Kernstock, Christian ; Seebacher, E. ; Minixhofer, R. ; Ceric, Hajdin ; Grasser, Tibor Interface Traps Density-of-States as a Vital Component for Hot-Carrier Degradation ModelingArtikel Article2010