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Thier, Markus
 
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1Csencsics, Ernst ; Thier, Markus ; Ito, Shingo ; Schitter, Georg Supplemental Peak Filters for Advanced Disturbance Rejection on a High Precision Endeffector for Robot-based Inline MetrologyArtikel Article 2021
2Csencsics Ernst - 2018 - Hochpraezise roboterbasierte 3D-In-Prozess-Messtechnik.pdf.jpgCsencsics, Ernst Karl ; Ito, Shingo ; Schlarp, Johannes ; Thier, Markus ; Schitter, Georg Hochpräzise roboterbasierte 3D-In-Prozess-MesstechnikArticle Artikel Oct-2018
3Csencsics, Ernst ; Thier, Markus ; Hainisch, Reinhard ; Schitter, Georg System and Control Design of a Voice Coil Actuated Mechanically Decoupling Two-body Vibration Isolation SystemArtikel Article 2018
4Saathof, Rudolf ; Thier, Markus ; Hainisch, Reinhard ; Schitter, Georg Integrated system and control design of a one DoF nano-metrology platformArtikel Article 2017
5Lieb, Andreas ; Howald, Lukas ; Fricker, Simon ; Thier, Markus ; Schitter, Georg Atomic Force Microscope for In-Line MetrologyPräsentation Presentation2016
6Thier, Markus ; Saathof, Rudolf ; Hainisch, Reinhard ; Schitter, Georg Metrology Platform to Enable In-Line NanometrologyPräsentation Presentation2016
7Thier, Markus ; Saathof, Rudolf ; Sinn, Andreas ; Hainisch, Reinhard ; Schitter, Georg Six Degree of Freedom Vibration Isolation Platform for In-Line Nano-MetrologyKonferenzbeitrag Inproceedings 2016
8Csencsics, Ernst ; Thier, Markus ; Siegl, Philipp ; Schitter, Georg Mechatronic Design of an Active Two-body Vibration Isolation SystemKonferenzbeitrag Inproceedings 2016
9Thier, Markus ; Saathof, Rudolf ; Hainisch, Reinhard ; Schitter, Georg Vibration Compensation Platform for Robot-based Nanoscale MeasurementsKonferenzbeitrag Inproceedings 2015
10Thier, Markus ; Saathof, Rudolf ; Csencsics, Ernst ; Hainisch, Reinhard ; Sinn, Andreas ; Schitter, Georg Entwurf und Regelung eines Positioniersystems für robotergestützte NanomesstechnikArtikel Article2015
11Fraxedas, Jordi ; Staufer, Urs ; Munnig Schmidt, Robert ; Spronck, Jo W. ; Trinidad, Enrique Rull ; Deng, Ruijun ; Schitter, Georg ; Thier, Markus ; Messineo, Saverio ; Ito, Shingo ; Hainisch, Reinhard ; Saathof, Rudolf ; Perez-Murano, Francesc ; Verdaguer, Albert ; Blümel, Alexander ; List-Kratochvil, Emil J. W. ; Koops, Richard ; van Veghel, Marijn ; Sum, Robert ; Lieb, Andreas ; Schott, Walter ; Dontsov, Denys ; Sulzbach, Thomas ; Engl, Wolfgang ; Penzkofer, Christian ; Colominas, Carles ; Fluch, Karl ; Garcia-Granada, Andrés-Amador ; Puigoriol-Forcada, Josep Maria Automated inline Metrology for Nanoscale Production - aim4npPräsentation Presentation2014
12Koops, Richard ; Staufer, Urs ; Munnig Schmidt, Robert ; Spronck, Jo W. ; Trinidad, Enrique Rull ; Deng, Ruijun ; Schitter, Georg ; Thier, Markus ; Messineo, Saverio ; Ito, Shingo ; Hainisch, Reinhard ; Saathof, Rudolf ; Fraxedas, Jordi ; Perez-Murano, Francesc ; Verdaguer, Albert ; Blümel, Alexander ; List-Kratochvil, Emil J. W. ; van Veghel, Marijn ; Sum, Robert ; Lieb, Andreas ; Schott, Walter ; Dontsov, Denys ; Sulzbach, Thomas ; Engl, Wolfgang ; Penzkofer, Christian ; Colominas, Carles ; Fluch, Karl ; Garcia-Granada, Andrés-Amador ; Puigoriol-Forcada, Josep Maria Automated in-line Metrology for Nanoscale Production - aim4npPräsentation Presentation2014
13Thier, Markus ; Paris, Rene ; Thurner, Thomas ; Schitter, Georg Low-Latency Shack Hartmann Wavefront Sensor Based on an Industrial Smart CameraArtikel Article2013
14Paris, René ; Thier, Markus ; Thurner, Thomas ; Schitter, Georg 'Shack-Hartmann Wavefront Sensor based on an Industrial Smart CameraKonferenzbeitrag Inproceedings 2012
15Thier, Markus FPGA based wavefront sensorThesis Hochschulschrift2012

Contributing Publications Mitbeteiligte Publikationen

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PreviewAuthor(s)TitleTypeIssue Date
1Lindner, Bernhard Metrology platform using hybrid reluctance actuator for robot-based nanometrologyThesis Hochschulschrift2018
2Hoffmann, Georg Adaptive optics for Michelson interferometryThesis Hochschulschrift2014