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Chasin, A
 

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1Makarov, Alexander ; Kaczer, Ben ; Roussel, Philippe ; Chasin, A ; Vandemaele, Michiel ; Hellings, Geert ; El-Sayed, Al-Moatasem ; Jech, Markus ; Grasser, Tibor ; Linten, D ; Tyaginov, S. E. Simulation Study: the Effect of Random Dopants and Random Traps on Hot-Carrier Degradation in nFinFETsKonferenzbeitrag Inproceedings 2019
2Tyaginov, S. E. ; Chasin, A ; Makarov, Alexander ; El-Sayed, Al-Moatasem ; Jech, Markus ; De Keersgieter, An ; Eneman, G. ; Vandemaele, Michiel ; Franco, J. ; Linten, D ; Kaczer, Ben Physics-based Modeling of Hot-Carrier Degradation in Ge NWFETsKonferenzbeitrag Inproceedings 2019
3Makarov, Alexander ; Kaczer, Ben ; Roussel, Philippe ; Chasin, A ; Vandemaele, Michiel ; Hellings, Geert ; El-Sayed, Al-Moatasem ; Jech, Markus ; Grasser, Tibor ; Linten, D ; Tyaginov, S. E. Stochastic Modeling of Hot-Carrier Degradation in nFinFETs Considering the Impact of Random Traps and Random DopantsKonferenzbeitrag Inproceedings 2019
4Tyaginov, Stanislav ; El-Sayed, Al-Moatasem Bellah ; Makarov, Alexander ; Chasin, A ; Arimura, H ; Vandemaele, Michiel ; Jech, Markus ; Capogreco, Elena ; Witters, L. ; Grill, Alexander ; De Keersgieter, An ; Eneman, G. ; Linten, Dimitri ; Kaczer, Ben Understanding and Physical Modeling Superior Hot-Carrier Reliability of Ge pNWFETsKonferenzbeitrag Inproceedings 2019
5Kaczer, Ben ; Rzepa, Gerhard ; Franco, J. ; Weckx, P. ; Chasin, A ; Putcha, Vamsi ; Bury, E. ; Simicic, Marko ; Roussel, Ph. J. ; Hellings, Geert ; Veloso, A. ; Matagne, Ph ; Grasser, Tibor ; Linten, D Benchmarking Time-Dependent Variability of Junctionless Nanowire FETsKonferenzbeitrag Inproceedings2017
6Chasin, A ; Franco, J. ; Kaczer, Ben ; Putcha, Vamsi ; Weckx, P. ; Ritzenthaler, Romain ; Mertens, H. ; Horiguchi, N. ; Linten, D ; Rzepa, Gerhard BTI Reliability and Time-Dependent Variability of Stacked Gate-All-Around Si Nanowire TransistorsKonferenzbeitrag Inproceedings2017
7Rzepa, Gerhard ; Franco, J. ; Subirats, A ; Jech, Markus ; Chasin, A ; Grill, Alexander ; Waltl, Michael ; Knobloch, Theresia ; Stampfer, Bernhard ; Chiarella, T. ; Horiguchi, N. ; Ragnarsson, L. A. ; Linten, D ; Kaczer, Ben ; Grasser, Tibor Efficient Physical Defect Model Applied to PBTI in High-κ StacksKonferenzbeitrag Inproceedings2017