DC Element
Wert
Sprache
dc.contributor.advisor
Vellekoop, Michael J.
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dc.contributor.author
Böhm, Johannes Alois
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dc.date.accessioned
2023-03-04T11:11:10Z
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dc.date.issued
2012
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dc.date.submitted
2012-02
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dc.identifier.citation
<div class="csl-bib-body"> <div class="csl-entry">Böhm, J. A. (2012). <i>Characterization of nano- and micrometer surface topographies applying angle-resolved light scattering : roughness monitoring in industrial finishing</i> [Dissertation, Technische Universität Wien]. reposiTUm. http://hdl.handle.net/20.500.12708/158988</div> </div>
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dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/20.500.12708/158988
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dc.description
Zsfassung in dt. Sprache
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dc.language
English
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dc.language.iso
en
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dc.subject
Metall
de
dc.subject
Oberfläche
de
dc.subject
Rauigkeitsmessung
de
dc.subject
Nephelometrie
de
dc.subject
Winkelauflösung
de
dc.title
Characterization of nano- and micrometer surface topographies applying angle-resolved light scattering : roughness monitoring in industrial finishing
en
dc.type
Thesis
en
dc.type
Hochschulschrift
de
dc.contributor.affiliation
TU Wien, Österreich
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tuw.thesisinformation
Technische Universität Wien
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dc.contributor.assistant
Vernes, András
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tuw.publication.orgunit
E366 - Institut für Sensor- und Aktuatorsysteme
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dc.type.qualificationlevel
Doctoral
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dc.identifier.libraryid
AC08911942
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dc.description.numberOfPages
126
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dc.thesistype
Dissertation
de
dc.thesistype
Dissertation
en
tuw.advisor.staffStatus
staff
-
tuw.assistant.staffStatus
staff
-
item.languageiso639-1
en
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item.openairetype
doctoral thesis
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item.grantfulltext
none
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item.fulltext
no Fulltext
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item.cerifentitytype
Publications
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item.openairecristype
http://purl.org/coar/resource_type/c_db06
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crisitem.author.dept
TU Wien
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Thesis
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