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DC Element
Wert
Sprache
dc.contributor.author
Kosina, Hans
-
dc.date.accessioned
2023-05-05T13:28:14Z
-
dc.date.available
2023-05-05T13:28:14Z
-
dc.date.issued
2022-10-13
-
dc.identifier.citation
<div class="csl-bib-body"> <div class="csl-entry">Kosina, H. (2022, October 13). <i>Numerische Modellierung der Beweglichkeit in verspanntem Silizium</i> [Conference Presentation]. CiS MEMS Workshop, Erfurt, Germany.</div> </div>
-
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/20.500.12708/176850
-
dc.description.sponsorship
CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
-
dc.language.iso
de
-
dc.subject
pressure sensor
en
dc.subject
piezoresistance coefficients
en
dc.subject
band structure
en
dc.subject
strained silicon
en
dc.title
Numerische Modellierung der Beweglichkeit in verspanntem Silizium
de
dc.type
Presentation
en
dc.type
Vortrag
de
dc.relation.grantno
1661279
-
dc.type.category
Conference Presentation
-
tuw.publication.invited
invited
-
tuw.project.title
Quantenmechanische Berechnung elektronischer Parameter
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tuw.researchTopic.id
C6
-
tuw.researchTopic.name
Modeling and Simulation
-
tuw.researchTopic.value
100
-
tuw.publication.orgunit
E360 - Institut für Mikroelektronik
-
tuw.publication.orgunit
E360-01 - Forschungsbereich Mikroelektronik
-
tuw.event.name
CiS MEMS Workshop
de
tuw.event.startdate
13-10-2022
-
tuw.event.enddate
13-10-2022
-
tuw.event.online
Hybrid
-
tuw.event.type
Event for scientific audience
-
tuw.event.place
Erfurt
-
tuw.event.country
DE
-
tuw.event.presenter
Kosina, Hans
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tuw.presentation.online
Online
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wb.sciencebranch
Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik
-
wb.sciencebranch.oefos
2020
-
wb.sciencebranch.value
100
-
item.languageiso639-1
de
-
item.openairetype
conference paper not in proceedings
-
item.grantfulltext
none
-
item.fulltext
no Fulltext
-
item.cerifentitytype
Publications
-
item.openairecristype
http://purl.org/coar/resource_type/c_18cp
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crisitem.author.dept
E360-01 - Forschungsbereich Mikroelektronik
-
crisitem.author.parentorg
E360 - Institut für Mikroelektronik
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crisitem.project.funder
CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
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