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<div class="csl-entry">Litzenberger, M. (2003). <i>Investigation of internal behavior in CMOS ESD protection devices under high current stress</i> [Dissertation, Technische Universität Wien]. reposiTUm. http://hdl.handle.net/20.500.12708/181562</div>
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http://hdl.handle.net/20.500.12708/181562
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dc.description
Zsfassung in dt. Sprache
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dc.language
English
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dc.language.iso
en
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dc.subject
CMOS-Schaltung
de
dc.subject
Transistor
de
dc.subject
Elektrostatische Entladung
de
dc.subject
Schutz
de
dc.subject
Interferometrie
de
dc.subject
Ausgleichsvorgang
de
dc.title
Investigation of internal behavior in CMOS ESD protection devices under high current stress
en
dc.type
Thesis
en
dc.type
Hochschulschrift
de
dc.contributor.affiliation
TU Wien, Österreich
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tuw.thesisinformation
Technische Universität Wien
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tuw.publication.orgunit
E362 - Institut für Festkörperelektronik
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dc.type.qualificationlevel
Doctoral
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dc.identifier.libraryid
AC03817663
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dc.description.numberOfPages
169
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dc.thesistype
Dissertation
de
dc.thesistype
Dissertation
en
tuw.advisor.staffStatus
staff
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item.languageiso639-1
en
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item.openairetype
doctoral thesis
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item.grantfulltext
none
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item.fulltext
no Fulltext
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item.cerifentitytype
Publications
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item.openairecristype
http://purl.org/coar/resource_type/c_db06
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crisitem.author.dept
E362 - Institut für Festkörperelektronik
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crisitem.author.parentorg
E350 - Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
