<div class="csl-bib-body">
<div class="csl-entry">Gammer, K. (2003). <i>Secondary ion mass spectrometry analysis of trace elements distribution in high performance materials</i> [Dissertation, Technische Universität Wien]. reposiTUm. http://hdl.handle.net/20.500.12708/183038</div>
</div>
-
dc.identifier.uri
http://hdl.handle.net/20.500.12708/183038
-
dc.description
Zsfassung in dt. Sprache
-
dc.language
English
-
dc.language.iso
en
-
dc.subject
Sekundärionen-Massenspektrometrie
de
dc.subject
Hochleistungswerkstoff
de
dc.subject
Spurenelement
de
dc.title
Secondary ion mass spectrometry analysis of trace elements distribution in high performance materials
en
dc.type
Thesis
en
dc.type
Hochschulschrift
de
dc.contributor.affiliation
TU Wien, Österreich
-
tuw.thesisinformation
Technische Universität Wien
-
tuw.publication.orgunit
E164 - Institut für Chemische Technologien und Analytik