Datensatz Zitierlink: 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/187687
https://doi.org/10.34726/4641
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Titel: 
The choice of the right beam energy for analytical (scanning) transmission electron microscopy
en
Zitat: 
Stöger-Pollach, M. (2022). The choice of the right beam energy for analytical (scanning) transmission electron microscopy. In V. Krzyžánek, K. Hrubanová, P. Hozák, I. Müllerová, & M. Slouf (Eds.), 16th Multinational Congress on Microscopy, 16MCM. Book of Abstracts (pp. 81–81). Czechoslovak Microscopy Society. https://doi.org/10.34726/4641
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reposiTUm-DOI: 
10.34726/4641
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CatalogPlus: 
AC17204443
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Publikationstyp: 
Konferenzbeitrag - Beitrag in einem Abstract Book
de
Sprache: 
Englisch
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Autor_innen: 
Stöger-Pollach, Michael 
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Organisations­einheit: 
E057-02 - Fachbereich Universitäre Serviceeinrichtung für Transmissions- Elektronenmikroskopie 
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Erschienen in: 
16th Multinational Congress on Microscopy, 16MCM. Book of Abstracts 
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ISBN: 
978-80-11-02253-2
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Datum (veröffentlicht): 
2022
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Veranstaltungs­name: 
16th Multinational Congress on Microscopy (16MCM) 
en
Veranstaltungs­zeitraum: 
4-Sep-2022 - 9-Sep-2022
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Veranstaltungs­ort: 
Brünn, Tschechien
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Umfang: 
1
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Verlag: 
Czechoslovak Microscopy Society, Brno
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Keywords: 
EELS
en
Forschungs­infrastruktur: 
Universitäre Service-Einrichtung für Transmissionselektronenmikroskopie 
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Link (extern): 
http://hdl.handle.net/20.500.12708/81244
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Forschungs­schwerpunkte: 
Materials Characterization: 50%
Surfaces and Interfaces: 50%
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Wissenschafts­zweig: 
1040 - Chemie: 30%
1030 - Physik, Astronomie: 70%
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Lizenz: 
Urheberrechtsschutz
en
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