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<div class="csl-entry">Khatibi Damavandi, G., & Czerny, B. (2023, October). Lebensdauerprognose von IGBT-Modulen in Rekordzeit mit BAMFIT-Bondtester. <i>PLUS - Produktion von Leiterplatten und Systemen</i>, <i>10/2023</i>, 1311–1320. http://hdl.handle.net/20.500.12708/190363</div>
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Lebensdauerprognose von IGBT-Modulen in Rekordzeit mit BAMFIT-Bondtester
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E164-03-2 - Forschungsgruppe Mechanische Eigenschaften und Zuverlässigkeit
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